Bitter, F.; Davis, S. P.; Sagalyn, P. L.; Waugh, J. S.; Adams, N. I., III; Lubell, M. S.; Murray, G. R., Jr.; Plotkin, H. H.; Richter, B.; Young, J. E. R. (Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1954-04-15)