Fundingsland, O. T.; Huntington, H. B.; Chance, B.; Kittel, C.; Livingston, M. S.; Pellam, J. R.; Mason, Samuel J.; Trump, J. C.; Davis, L., Jr.; Boyer, K.; Edlefsen, N. E.; Rapuano, R. A.; Cork, B.; Clark, J. S.; Verzuh, F. M.; Winter, D. F.; Everhart, E.; Halpern, J.; Getting, I. A.; Van Valkenburg, M. E.; Galt, J. K.; Battey, B.; Bostick, W. H.; Slater, J. C.; Terrall, J. R.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1946-03-15)