Collins, S. C.; Poss, H. L.; Brown, S. C.; Lehr, G. G.; Maxwell, E.; Kerr, Donald E.; Biondi, M. A.; Squire, C. F.; Bitter, F.; Strandberg, Malcom W. P.; Ingersoll, J. G.; Slater, J. C.; Zabel, C. W.; Julian, R. S.; Beard, C. I.; Garrison, J. B.; Zacharias, J. R.; Feld, B. T.; Alpert, N. L.; Wentink, T., Jr.; Luttinger, J. M.; Lawrance, R. B.; Everhart, E.; Cavileer, R. P.; Pellam, J. R.; Kittel, C.; Kyhl, Robert L.; Hillger, R. E.; Davis, L., Jr.; Tisza, Laszlo; Herlin, M. A.; Nagel, D. E.; Allis, W. P.; Hill, Albert G.; Lin, S. T.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1947-04-15)