Kittel, C.; Bitter, F.; Poss, H. L.; Zacharias, J. R.; Slater, J. C.; Biondi, M. A.; Maxwell, E.; Herlin, M. A.; Beard, C. I.; Zabel, C. W.; Lin, S. T.; Kyhl, Robert L.; Alpert, N. L.; Garrison, J. B.; Tisza, Laszlo; Pellam, J. R.; Brown, S. C.; Julian, R. S.; Kerr, Donald E.; Davis, L., Jr.; Lehr, G. G.; Nagle, D. E.; Allis, W. P.; Luttinger, J. M.; Cavileer, R. P.; Strandberg, Malcom W. P.; Squire, C. F.; Feld, B. T.; Wentink, T., Jr.; Squire, C. P.; Everhart, E.; Hillger, R. E.; Ingersoll, J. G.; Hill, Albert G. (Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1947-07-15)