Cohen, R.; Linvill, J. G.; Coffey, W. N.; Cheatham, T. P., Jr.; Chu, L. J.; Smullin, Louis D.; David, E. E., Jr.; Wiesner, Jerome B.; Duvall, G. E.; Knudtzon, N. H.; Guillemin, Ernst A.; Hobbs, C. F.; Granlund, John; Ho, E. C.; Hatton, W. L.; Arguimbau, Lawrence B.; Lee, Y. W.; Moreno, T.; Kretzmer, E. R.; Davenport, Wilbur B., Jr.; Adler, Richard B.; Cerrillo, Manuel V.; Dolansky, L.; Winter, D. F.; Fano, R. M.; Powers, D. M. (Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1948-07-15)