Hillger, R. E.; Knight, G.; Davis, L., Jr.; Lawrance, R. B.; Nagle, D. E.; Weiss, M. T.; Strandberg, Malcom W. P.; Feld, B. T.; Bitter, F.; Gokhale, B. V.; Zabel, C. W.; Eshbach, J. R.; Dickinson, W. C.; Hahn, T. M., Jr.; Kip, A. F.; Johnson, H. R.; Ingersoll, J. G.; Adams, N. I., Jr.; Arnold, R. D.; Zacharias, J. R.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1949-04-15)