Hahn, T. M., Jr.; Knight, G.; Lawrance, R. B.; Eisinger, J. T.; King, G. W.; Johnson, H. R.; Eshbach, J. R.; Wimett, T. F.; Ingersoll, J. G.; Dickinson, W. C.; Loomis, C. C.; Lew, Hin; Weiss, M. T.; Zacharias, J. R.; Zabel, C. W.; Hillger, R. E.; Hill, Albert G.; Nagle, D. E.; Bitter, F.; Arnold, R. D.; Harvey, George G.; Davis, L., Jr.; Adams, N. I., III; Gokhale, B. V.; Levinson, J.; Feld, B. T.; Strandberg, Malcom W. P.; Pohlman, W. B.; Kip, A. F.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1949-07-15)