Brown, B.; Lephakis, A. J.; Arguimbau, Lawrence B.; Paananen, R. A.; Cerrillo, Manuel V.; Linvill, J. G.; Wiesner, Jerome B.; Fairfield, J., Jr.; Levine, L.; Davenport, Wilbur B., Jr.; David, E. E., Jr.; Guillemin, Ernst A.; Cowley, P. E. A.; Stutt, C. A.; Kautz, W. H.; Singleton, H. E.; Weinberg, L.; Hatton, W. L.; Schneider, W. P.; Granlund, John; Kraft, L. G., Jr.; Dolansky, L.; Rybner, J. C. F.; Green, P. E., Jr.; Lee, Y. W.; Truxal, J. G.; Gibbons, E. H., Jr.; Straus, O. H.; Fano, R. M.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1950-01-15)