Howland, Bradford H.; Levin, M. J.; Pitts, Walter H.; Ikehara, S.; Barrett, F. D.; Cerrillo, Manuel V.; Bennett, R. K.; Rizzoni, E. M.; Christie, L. S.; Luce, R. D.; Simmel, A. G.; Macy, J., Jr.; Brazier, Mary A. B.; Kinzinger, W. C.; Arguimbau, Lawrence B.; Lee, Y. W.; Witcher, C. M.; Cross, H. H.; Paananen, R. A.; Guillemin, Ernst A.; Safford, K.; Lettvin, Jerome Y.; Reintjes, J. Francis, Jr.; Lerner, R. M.; Fano, R. M.; Putter, K.; Desoer, C. A.; Granlund, John; Stutt, C. A.; Ruiz de Luzuriaga, E.; Rosenblith, Walter A.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1952-01-15)