Desoer, C. A.; Lerner, R. M.; Putter, K.; Flannery, J. B.; Christie, L. S.; Fano, R. M.; Granlund, John; Rosenblith, Walter A.; Wall, P. D.; Stuart, R. D.; Stutt, C. A.; Bennett, R. K.; Bussgang, J. J.; Rizzoni, E. M.; Macy, J., Jr.; Thorlakson, P. F.; Reintjes, J. Francis, Jr.; Arguimbau, Lawrence B.; Brazier, Mary A. B.; Ruiz de Luzuriaga, E.; Senft, D. G.; Howland, Bradford H.; Witcher, C. M.; Palmer, E. S.; Safford, K.; Pitts, Walter H.; Lee, Y. W.; Paananen, R. A.; Lettvin, Jerome Y.; Wiesner, Jerome B.; Levin, M. J.; Bar-Hillel, Y.; Reza, F. M.; Dolansky, L.; Luce, R. D.; Cerrillo, Manuel V.; Washington, L., Jr.; Manna, E. E.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1952-04-15)