Martin, S. T.; Barrett, A. G.; Smullin, Louis D.; Haus, Hermann A.; Rowe, H. E.; Chu, L. J.; Knechtli, R. C.; Russell, C. R.; Berk, A. D.; McKee, D.; Stark, L.; Boekelheide, A. W.; Muehe, C. E., Jr.; Tonning, A.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1952-07-15)