Okabe, Y.; Asano, S.; Sever, G.; Kurkjian, R. G.; Samson, P. R.; Takahashi, Y.; Stark, L.; Sobel, I.; Hermann, H. T.; Houk, J. C., Jr.; Sandberg, A. A.; Stanten, S. F.; Zames, G. D.; Rhodes, Helen E.; Nelson, G. P.; Young, L. R.; Willis, P. A.; Finnila, C. A.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1962-07-15)