Sununu, J. H.; Penhune, J. P.; Freedman, S. I.; Cooper, R. S.; Koskinen, M. F.; Melcher, J. R.; Reynolds, J. M., III; Ellis, James R., Jr.; Jordan, H. D.; Fraim, F. W., IV; Pierson, E. S.; Hoffman, M. A.; Woodson, H. H.; Oates, G. C.; East, D. A.; Kerrebrock, J. L.; Carabateas, E. N.; Chandra, A. N.; Phipps, C. R., Jr.; Jackson, W. D.; Rook, C. W., Jr.; Gothard, N.; Reid, M. H.; Kliman, G. B.; Shapiro, A. H.; Heiser, W. H.; Olsen, J. H.; Brown, G. A.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1963-01-15)