Joseph, D. K.; Hall, J. L., II; Cohn, T. E.; Sandel, T. T.; Wiederhold, M. L.; Chance, Eleanor K.; Black, W. L.; Wilde, G. R.; Hambrecht, F. T.; Tripp, A. P.; Einolf, C. W., Jr.; Aldrich, J. A.; Baecker, R. C.; Meyer, J. S.; Snodderly, D. M., Jr.; Rome, J. A.; Fevrier, A.; Marmon, W. C.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1963-07-15)