Briggs, R. J.; Brown, T. S.; Lieberman, M. A.; Puri, S.; Smullin, Louis D.; Mills, J. D.; Bers, Abraham; Vlaardingerbroek, M. T.; Epstein, M. R.; Rose, D. J.; Dunn, F. E.; Fessenden, T. J.; Getty, W. D.; Morse, D. L.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1964-07-15)