Speck, C. E.; Moir, R. W.; Smullin, Louis D.; Lidsky, Lawrence M.; Clarke, J. F.; Kyong, S. H.; Offenberger, A. A.; Bartsch, R. R.; Newton, P. E.; Robertson, E. A.; Gyftopoulos, E. P.; Musha, T.; Getty, W. D.; Bers, Abraham; Kusse, B. R.; Fessenden, T. J.; Schneider, H. M.; Davis, J. A.; Parker, Ronald R.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1965-07-15)