Billman, K. W.; Kukolich, S. G.; Golub, R.; Searle, Campbell L.; Guttrich, G. L.; Badessa, R. S.; Thornburg, C. O., Jr.; Yaffee, M. A.; Culter, L. S.; Taylor, E. F.; Johnston, W. D., Jr.; Zacharias, J. R.; King, J. G.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1966-01-15)