Rafuse, R. P.; Steinbrecher, D. H.; Rudzki, J. E.; Majer, J. W.; Saleh, A. A. M.; Peterson, D. F.; Gerrath, K. H.; Mohlere, R. D. V.; Neal, T. L.; Snyder, R. E.; Rosenstein, H. T.; Rosenkranz, P. W.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1968-04-15)