Frishkopf, Lawrence S.; Guinan, John J., Jr.; Kiang, Nelson Y-S.; Peake, William T.; Weiss, Thomas F.; Braida, Louis D.; Colburn, H. Steven; Durlach, Nathaniel I.; Goldstein, J. L.; Seibert, William M.; Berliner, J. E.; Krummenoehl, A. F.; Houtsma, Adrian J. M.; Rabinowitz, William M.; Stahl, D. O., II; Callahan, D. J.; Kelley, W. F.; Hall, Robert D.; Lindholm, E. P.; Burns, S. K.; Mark, R. G.; Sulman, D. L.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1970-01-15)