Peake, William T.; Nedzelnitsky, V.; Weiss, Thomas F.; Moxon, E. C.; Altmann, D. W.; Goldstein, J. L.; Baer, T.; Kiang, Nelson Y-S.; Turner, R. G., Jr.; Guinan, John J., Jr.; Brown, Robert M.; Berliner, J. E.; Bilsen, F. A.; Braida, Louis D.; Callahan, D. J.; Colburn, H. Steven; Domnitz, Robert H.; Durlach, Nathaniel I.; Herman, Philip W., Jr.; Hicks, Bruce L.; Houtsma, Adrian J. M.; Kelley, W. F.; Lippmann, Richard P.; Moshier, S. L.; Rabinowitz, William M.; Roberts, J. B.; Siebert, William M.; Hall, Robert D.; Lindholm, E. P.; Demko, P., Jr.; Hasan, Z.; Frishkopf, Lawrence S.; Oman, Charles M.; Liff, H. J.; Mark, R. G.; Burns, S. K.; Shamres, S.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1972-01-15)