Kiang, Nelson Y-S.; Guinan, John J., Jr.; Peake, William T.; Weiss, Thomas F.; Berliner, J. E.; Braida, Louis D.; Callahan, D. J.; Colburn, H. Steven; Domnitz, Robert H.; Duifhuis, H.; Durlach, Nathaniel I.; Goldstein, J. L.; Hicks, Bruce L.; Houtsma, Adrian J. M.; Kelley, W. F.; Lippmann, Richard P.; Moshier, S. L.; Rabinowitz, William M.; Shepard, Neil T.; Siebert, William M.; Hall, Robert D.; Oman, Charles M.; Frishkopf, Lawrence S.; Burns, S. K.; Mark, R. G.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1973-01-15)