Slater, J. C.; Biondi, M. A.; Kerr, Donald E.; Nagel, D. E.; Poss, H. L.; Everhart, E.; Lawrance, R. B.; Ingersoll, J. G.; Zabel, C. W.; Hillger, R. E.; Strandberg, Malcom W. P.; Julian, R. S.; Wentink, T., Jr.; Garrison, J. B.; Cavileer, R. P.; Lehr, C. G.; Alpert, N. L.; Arnold, R. D.; Nowak, W. B.; Lin, S. T.; Hill, Albert G.; Kyhl, Robert L.; Beard, C. I.; Davis, L., Jr.; Brown, S. C.; Bitter, F.; Allis, W. P.; Kip, A. F.; Herlin, M. A.; Maxwell, E.
(Research Laboratory of Electronics (RLE) at the Massachusetts Institute of Technology (MIT), 1947-10-15)