Search for mixing-induced CP violation using partial reconstruction of [bar over B][superscript 0] → D[superscript *+]}Xℓ[superscript -][bar over ν][subscript ℓ]and kaon tagging
Author(s)
Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Stugu, B.; Brown, D. N.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Lee, M. J.; Lynch, G.; Koch, H.; Schroeder, T.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; So, R. Y.; Khan, A.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Lankford, A. J.; Dey, B.; Gary, J. W.; Long, O.; Franco Sevilla, M.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; West, C. A.; Eisner, A. M.; Lockman, W. S.; Panduro Vazquez, W.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Kim, J.; Miyashita, T. S.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Röhrken, M.; Andreassen, R.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Pushpawela, B. G.; Sokoloff, M. D.; Sun, L.; Ford, W. T.; Gaz, A.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Ayad, R.; Toki, W. H.; Spaan, B.; Bernard, D.; Verderi, M.; Playfer, S.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Adametz, A.; Uwer, U.; Lacker, H. M.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Prell, S.; Ahmed, H.; Gritsan, A. V.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Malaescu, B.; Roudeau, P.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Coleman, J. P.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Cowan, G.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Schubert, K. R.; Barlow, R. J.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Hamilton, B.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Cheaib, R.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Neri, N.; Palombo, F.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Summers, D. J.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Honscheid, K.; Kass, R.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Chrzaszcz, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Lopes Pegna, D.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Bünger, C.; Dittrich, S.; Grünberg, O.; Hess, M.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Vasseur, G.; Aston, D.; Bard, D. J.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Fulsom, B. G.; Graham, M. T.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; Luth, V.; MacFarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Schindler, R. H.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Va’vra, J.; Wisniewski, W. J.; Wulsin, H. W.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Puccio, E. M. T.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Gamba, D.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Beaulieu, A.; Bernlochner, F. U.; Choi, H. H. F.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M. J.; Lueck, T.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Tasneem, N.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Band, H. R.; Dasu, S.; Pan, Y.; Prepost, R.; Wu, S. L.; Cowan, Ray F; ... Show more Show less
DownloadPhysRevD.93.032001.pdf (960.0Kb)
PUBLISHER_POLICY
Publisher Policy
Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.
Terms of use
Metadata
Show full item recordAbstract
We describe in detail a previously published measurement of CP violation in B[superscript 0]-[bar over B][superscript 0] oscillations, based on an integrated luminosity of 425.7 fb[superscript -1] collected by the BABAR experiment at the PEPII collider. We apply a novel technique to a sample of about 6 million [bar over B][superscript 0] → D[superscript *+]ℓ[superscript -][bar over ν][subscript ℓ] decays selected with partial reconstruction of the D[superscript *+] meson. The charged lepton identifies the flavor of one B meson at its decay time, the flavor of the other B is determined by kaon tagging. We determine a CP violating asymmetry A[subscript CP] = (N(B[superscript 0]B[superscript 0]) - N([bar over B][superscript 0][bar over B][superscript 0]))/(N(B[superscript 0]B[superscript 0]) + N([bar over B][superscript 0][bar over B][superscript 0])) = (0.06 ± 0.17[+0.38 over -0.32])% corresponding to Δ[subscript CP] = 1 - |q/p| = (0.29 ± 0.84[+1.88 over -1.61]) × 10[superscript -3]. This measurement is consistent and competitive with those obtained at the B factories with dilepton events.
Date issued
2016-02Department
Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear ScienceJournal
Physical Review D
Publisher
American Physical Society
Citation
Lees, J. P., V. Poireau, V. Tisserand, E. Grauges, et al. "Search for mixing-induced CP violation using partial reconstruction of [bar over B][superscript 0] → D[superscript *+]}Xℓ[superscript -][bar over ν][subscript ℓ]and kaon tagging." Phys. Rev. D 93, 032001 (February 2016). © 2016 American Physical Society
Version: Final published version
ISSN
1550-7998
1550-2368