Observation of Electroweak Single Top-Quark Production

Aaltonen, T.; Adelman, J.; Akimoto, T.; Álvarez González, B.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Annovi, A.; Antos, J.; Apollinari, G.; Apresyan, A.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Aurisano, A.; Azfar, F.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V.; Barnett, B.; Barria, P.; Bartsch, V.; Bauer, G.; Beauchemin, P.-H.; Bedeschi, F.; Beecher, D.; Behari, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Beringer, J.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bizjak, I.; Blair, R.; Blocker, C.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Boisvert, V.; Bolla, G.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Boveia, A.; Brau, B.; Bridgeman, A.; Brigliadori, L.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H.; Budd, S.; Burke, S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Buzatu, A.; Byrum, K.; Cabrera, S.; Calancha, C.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Carls, B.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carrillo, S.; Carron, S.; Casal, B.; Casarsa, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cavaliere, V.; Cavalli-Sforza, M.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chang, S.; Chen, Y.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J.; Choudalakis, G.; Chuang, S.; Chung, K.; Chung, W.; Chung, Y.; Chwalek, T.; Ciobanu, C.; Ciocci, M.; Clark, A.; Clark, D.; Compostella, G.; Convery, M.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Cox, C.; Cox, D.; Crescioli, F.; Cuenca Almenar, C.; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Cully, J.; Dagenhart, D.; Datta, M.; Davies, T.; de Barbaro, P.; De Cecco, S.; Deisher, A.; De Lorenzo, G.; Dell’Orso, M.; Deluca, C.; Demortier, L.; Deng, J.; Deninno, M.; Derwent, P.; Di Canto, P.; di Giovanni, G.; Dionisi, C.; Di Ruzza, B.; Dittmann, J.; D’Onofrio, M.; Donati, S.; Dong, P.; Donini, J.; Dorigo, T.; Dube, S.; Efron, J.; Elagin, A.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H.; Farrington, S.; Fedorko, W.; Feild, R.; Feindt, M.; Fernandez, J.; Ferrazza, C.; Field, R.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Franklin, M.; Freeman, J.; Furic, I.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garberson, F.; Garcia, J.; Garfinkel, A.; Garosi, P.; Genser, K.; Gerberich, H.; Gerdes, D.; Gessler, A.; Giagu, S.; Giakoumopoulou, V.; Giannetti, P.; Gibson, K.; Gimmell, J.; Ginsburg, C.; Giokaris, N.; Giordani, M.; Giromini, P.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Golossanov, A.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; González, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Grinstein, S.; Grosso-Pilcher, C.; Group, R.; Grundler, U.; Guimaraes da Costa, J.; Gunay-Unalan, Z.; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S.; Halkiadakis, E.; Han, B.-Y.; Han, J.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, D.; Hare, M.; Harper, S.; Harr, R.; Harris, R.; Hartz, M.; Hatakeyama, K.; Hays, C.; Heck, M.; Heijboer, A.; Heinrich, J.; Henderson, C.; Herndon, M.; Heuser, J.; Hewamanage, S.; Hidas, D.; Hill, C.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hou, S.; Houlden, M.; Hsu, S.-C.; Huffman, B.; Hughes, R.; Husemann, U.; Hussein, M.; Huston, J.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ivanov, A.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeon, E.; Jha, M.; Jindariani, S.; Johnson, W.; Jones, M.; Joo, K.; Jun, S.; Jung, J.; Junk, T.; Kamon, T.; Kar, D.; Karchin, P.; Kato, Y.; Kephart, R.; Keung, J.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D.; Kim, H.; Kim, H.; Kim, J.; Kim, M.; Kim, S.; Kim, S.; Kim, Y.; Kimura, N.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Knuteson, B.; Ko, B.; Kondo, K.; Kong, D.; Konigsberg, J.; Korytov, A.; Kotwal, A.; Kreps, M.; Kroll, J.; Krop, D.; Krumnack, N.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kubo, T.; Kuhr, T.; Kulkarni, N.; Kurata, M.; Kwang, S.; Laasanen, A.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; LeCompte, T.; Lee, E.; Lee, H.; Lee, S.; Leone, S.; Lewis, J.; Lin, C.-S.; Linacre, J.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Liss, T.; Lister, A.; Litvintsev, D.; Liu, C.; Liu, T.; Lockyer, N.; Loginov, A.; Loreti, M.; Lovas, L.; Lucchesi, D.; Luci, C.; Lueck, J.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; MacQueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Makhoul, K.; Maki, T.; Maksimovic, P.; Malde, S.; Malik, S.; Manca, G.; Manousakis-Katsikakis, A.; Margaroli, F.; Marino, C.; Marino, C.; Martin, A.; Martin, V.; Martínez, M.; Martínez-Ballarín, R.; Maruyama, T.; Mastrandrea, P.; Masubuchi, T.; Mathis, M.; Mattson, M.; Mazzanti, P.; McFarland, K.; McIntyre, P.; McNulty, R.; Mehta, A.; Mehtala, P.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miller, R.; Mills, C.; Milnik, M.; Mitra, A.; Mitselmakher, G.; Miyake, H.; Moggi, N.; Moon, C.; Moore, R.; Morello, M.; Morlock, J.; Movilla Fernandez, P.; Mülmenstädt, J.; Mukherjee, A.; Muller, Th.; Mumford, R.; Murat, P.; Mussini, M.; Nachtman, J.; Nagai, Y.; Nagano, A.; Naganoma, J.; Nakamura, K.; Nakano, I.; Napier, A.; Necula, V.; Nett, J.; Neu, C.; Neubauer, M.; Neubauer, S.; Nielsen, J.; Nodulman, L.; Norman, M.; Norniella, O.; Nurse, E.; Oakes, L.; Oh, S.; Oh, Y.; Oksuzian, I.; Okusawa, T.; Orava, R.; Osterberg, K.; Pagan Griso, S.; Palencia, E.; Papadimitriou, V.; Papaikonomou, A.; Paramonov, A.; Parks, B.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Peiffer, T.; Pellett, D.; Penzo, A.; Phillips, T.; Piacentino, G.; Pianori, E.; Pinera, L.; Pitts, K.; Plager, C.; Pondrom, L.; Potamianos, K.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prakoshyn, F.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pueschel, E.; Punzi, G.; Pursley, J.; Rademacker, J.; Rahaman, A.; Ramakrishnan, V.; Ranjan, N.; Redondo, I.; Renton, P.; Renz, M.; Rescigno, M.; Richter, S.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rodriguez, T.; Rogers, E.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossi, M.; Rossin, R.; Roy, P.; Ruiz, A.; Russ, J.; Rusu, V.; Rutherford, B.; Saarikko, H.; Safonov, A.; Sakumoto, W.; Saltó, O.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sartori, L.; Sato, K.; Savoy-Navarro, A.; Schlabach, P.; Schmidt, A.; Schmidt, E.; Schmidt, M.; Schmidt, M.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Sexton-Kennedy, L.; Sforza, F.; Sfyrla, A.; Shalhout, S.; Shears, T.; Shepard, P.; Shimojima, M.; Shiraishi, S.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Slaughter, A.; Slaunwhite, J.; Sliwa, K.; Smith, J.; Snider, F.; Snihur, R.; Soha, A.; Somalwar, S.; Sorin, V.; Spalding, J.; Spreitzer, T.; Squillacioti, P.; Stanitzki, M.; St. Denis, R.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Strycker, G.; Stuart, D.; Suh, J.; Sukhanov, A.; Suslov, I.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Tanaka, R.; Tecchio, M.; Teng, P.; Terashi, K.; Thom, J.; Thompson, A.; Thompson, G.; Thomson, E.; Tipton, P.; Ttito-Guzmán, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tokar, S.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Torre, S.; Torretta, D.; Totaro, P.; Tourneur, S.; Trovato, M.; Tsai, S.-Y.; Tu, Y.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Vallecorsa, S.; van Remortel, N.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vázquez, F.; Velev, G.; Vellidis, C.; Vidal, M.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vine, T.; Vogel, M.; Volobouev, I.; Volpi, G.; Wagner, P.; Wagner, R.; Wagner, R.; Wagner, W.; Wagner-Kuhr, J.; Wakisaka, T.; Wallny, R.; Wang, S.; Warburton, A.; Waters, D.; Weinberger, M.; Weinelt, J.; Wester, W.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A.; Wicklund, E.; Wilbur, S.; Williams, G.; Williams, H.; Wilson, P.; Winer, B.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wright, T.; Wu, X.; Würthwein, F.; Xie, S.; Yagil, A.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yang, U.; Yang, Y.; Yao, W.; Yeh, G.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, G.; Yu, I.; Yu, S.; Yun, J.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zhang, X.; Zheng, Y.; Zucchelli, S.

Author(s)

Xie, Si; Knuteson, Bruce O.; Henderson, C.; Hahn, Kristian Allan; Goncharov, Maxim; ... Show more

DownloadAaltonen-2009-Observation of Elect.pdf (255.8Kb)

PUBLISHER_POLICY

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

We report the observation of single top-quark production using 3.2 fb[superscript -1] of pp̅ collision data with √s=1.96 TeV collected by the Collider Detector at Fermilab. The significance of the observed data is 5.0 standard deviations, and the expected sensitivity for standard model production and decay is in excess of 5.9 standard deviations. Assuming m[subscript t]=175 GeV/c[superscript 2], we measure a cross section of 2.3[subscript -0.5][superscript +0.6](stat+syst) pb, extract the CKM matrix-element value |V[subscript tb]|=0.91±0.11(stat+syst)±0.07(theory), and set the limit |V[subscript tb]|>0.71 at the 95% C.L.

Date issued

2009-08

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/52314

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review Letters

Publisher

American Physical Society

Citation

Version: Final published version

ISSN

0031-9007

Collections

MIT Open Access Articles

DSpace@MIT