Show simple item record

dc.contributor.authorDujmic, Denis
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorZhao, M.
dc.contributor.authorCowan, Ray F
dc.contributor.authorFisher, Peter H
dc.contributor.authorTaylor, Frank E
dc.contributor.authorSpitznagel, Michael A
dc.date.accessioned2010-03-18T16:39:16Z
dc.date.available2010-03-18T16:39:16Z
dc.date.issued2009-01
dc.date.submitted2008-09
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/52707
dc.description.abstractWe report e[superscript +]e[superscript -]→bb̅ cross section measurements by the BABAR experiment performed during an energy scan in the range of 10.54 to 11.20 GeV at the SLAC PEP-II e+e- collider. A total relative error of about 5% is reached in more than 300 center-of-mass energy steps, separated by about 5 MeV. These measurements can be used to derive precise information on the parameters of the Υ(10860) and Υ(11020) resonances. In particular we show that their widths may be smaller than previously measured.en
dc.description.sponsorshipScience and Technology Facilities Council, United Kingdomen
dc.description.sponsorshipMEC (Spain)en
dc.description.sponsorshipMES (Russia)en
dc.description.sponsorshipNFR (Norway)en
dc.description.sponsorshipFOM of the Netherlandsen
dc.description.sponsorshipIstituto Nazionale di Fisica Nucleare of Italyen
dc.description.sponsorshipDFG (Germany)en
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschung, Germanyen
dc.description.sponsorshipCNRS/IN2P3 of Franceen
dc.description.sponsorshipCEA (France)en
dc.description.sponsorshipNatural Sciences and Engineering Research Council of Canadaen
dc.description.sponsorshipNational Science Foundationen
dc.description.sponsorshipDepartment of Energyen
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.102.012001en
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en
dc.sourceAPSen
dc.titleMeasurement of the e[superscript +]e[superscript -] -->bb̅ Cross Section between [sqrt s]=10.54 and 11.20 GeVen
dc.title.alternativeMeasurement of the e+e-→bb̅ Cross Section between √s=10.54 and 11.20 GeVen
dc.typeArticleen
dc.identifier.citationAubert, B. et al. "Measurement of the e[superscript +]e[superscript -] -->bb̅ Cross Section between [sqrt s]=10.54 and 11.20 GeV." Physical Review Letters 102.1 (2009): 012001. © 2009 The American Physical Societyen
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorDujmic, Denis
dc.contributor.mitauthorFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorTaylor, Frank E.
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorSpitznagel, M.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.contributor.mitauthorZhao, M.
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen
dc.eprint.versionFinal published versionen
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.; Battaglia, M.; Brown, D.; Cahn, R.; Jacobsen, R.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Ronan, M.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Walker, D.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Flacco, C.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Ulmer, K.; Wagner, S.; Ayad, R.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Mader, W.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Nash, J.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Lae, C.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; Firmino da Costa, J.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; George, K.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Flaecher, H.; Hopkins, D.; Paramesvaran, S.; Salvatore, F.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Schott, G.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Chia, Y.; Edgar, C.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Li, X.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Benelli, G.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Escalier, M.; Esteve, L.; Ganzhur, S.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Benitez, J.; Bertsche, K.; Cai, Y.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Decker, F.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Ecklund, S.; Erickson, R.; Field, R.; Fisher, A.; Fox, J.; Gabareen, A.; Gowdy, S.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Iverson, R.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Kulikov, A.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; Novokhatski, A.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Rivetta, C.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Seeman, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Van Winkle, D.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wienands, U.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wittmer, W.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yan, Y.; Yarritu, A.; Yi, K.; Yocky, G.; Young, C.; Ziegler, V.; Burchat, P.; Edwards, A.; Majewski, S.; Miyashita, T.; Petersen, B.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7586-7253
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8667-5660
mit.licensePUBLISHER_POLICYen
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record