Dalitz plot analysis of B[superscript plus or minus]-->pi[superscript plus or minus]pi[superscript plus or minus]pi[superscript minus over plus] decays

Aubert, B.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Battaglia, M.; Brown, D.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Randle-Conde, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Atmacan, H.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bernlochner, F.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Henderson, S.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Schram, M.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Stracka, S.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Esteve, L.; de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Gabareen, A.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Yi, K.; Young, C.; Ziegler, V.; Burchat, P.; Edwards, A.; Miyashita, T.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; King, G.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Back, J.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Puccio, E.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.

Author(s)

Zhao, M.; Yamamoto, R. K.; Sciolla, Gabriella; Henderson, Shawn Wesley; Dujmic, Denis; ... Show more

DownloadAubert-2009-Dalitz plot analysis.pdf (431.3Kb)

PUBLISHER_POLICY

Alternative title

Dalitz plot analysis of B±→π±π±π∓ decays

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

We present a Dalitz plot analysis of charmless B[superscript ±] decays to the final state pi[superscript plus or minus]pi[superscript plus or minus]pi[superscript minus over plus] using a sample of (465±5)×10[superscript 6] BB[overbar] pairs collected by the BABAR experiment at sqrt [s]=10.58 GeV. We measure the branching fractions B(B[superscript plus or minus]-->pi[superscript plus or minus]pi[superscript plus or minus]pi[superscript minus over plus])= (15.2±0.6±1.2±0.4)×10[superscript -6], B(B±-->rho[superscript 0](770)pi±)=(8.1±0.7±1.2[subscript -1.1]+0.4)×10[superscript -6], B(B±-->f[subscript 2](1270)pi±)=(1.57±0.42±0.16[subscript -0.19][superscript+0.53])×10[superscript -6], and B(B±-->pi±pi±pi∓ nonresonant)=(5.3±0.7±0.6[subscript -0.5][subscript +1.1])×10[superscript -6], where the uncertainties are statistical, systematic, and model-dependent, respectively.

Date issued

2009-04

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/54716

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review D

Publisher

American Physical Society

Citation

BABAR Collaboration et al. “Dalitz plot analysis of B[superscript plus or minus]--> pi[superscript plus or minus]pi[superscript plus or minus]pi[superscript minus over plus] decays.” Physical Review D 79.7 (2009): 072006. © American Physical Society.

Version: Final published version

ISSN

1550-7998

Collections

MIT Open Access Articles

DSpace@MIT