Measurement of B-->X gamma Decays and Determination of |V[subscript td]/V[subscript ts]|

Aubert, B.; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.; Battaglia, M.; Brown, D.; Cahn, R.; Jacobsen, R.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Ronan, M.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Walker, D.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Flacco, C.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Ulmer, K.; Wagner, S.; Ayad, R.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Mader, W.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Nash, J.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Lae, C.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; Firmino da Costa, J.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; George, K.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Flaecher, H.; Hopkins, D.; Paramesvaran, S.; Salvatore, F.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Schott, G.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Chia, Y.; Edgar, C.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Li, X.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Benelli, G.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Escalier, M.; Esteve, L.; Ganzhur, S.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Gabareen, A.; Gowdy, S.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Yi, K.; Young, C.; Ziegler, V.; Burchat, P.; Edwards, A.; Majewski, S.; Miyashita, T.; Petersen, B.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.

Author(s)

Zhao, M.; Yamamoto, R. K.; Taylor, Frank E.; Spitznagel, M.; Sciolla, Gabriella; ... Show more

DownloadAubert-2009-Measurement of B -_.pdf (487.9Kb)

PUBLISHER_POLICY

Alternative title

Measurement of B→Xγ Decays and Determination of |Vtd/Vts|

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

Using a sample of 383×106 B[bar-over B] events collected by the BABAR experiment, we measure sums of seven exclusive final states B→X[subscript d(s)]gamma, where X[subscript d](X[subscript s]) is a nonstrange (strange) charmless hadronic system in the mass range 0.6–1.8 GeV/c[superscript 2]. After correcting for unmeasured decay modes in this mass range, we obtain a branching fraction for b-->d gamma of (7.2±2.7(stat)±2.3(syst))×10[superscript -6]. Taking the ratio of X[subscript d] to X[subscript s] we find Gamma(b→dγ)/Gamma(b→sγ)=0.033±0.013(stat)±0.009(syst), from which we determine |V[subscript td]/V[subscript ts]|=0.177±0.043.

Date issued

2009-04

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/54733

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review Letters

Publisher

American Physical Society

Citation

Version: Final published version

ISSN

0031-9007

Collections

MIT Open Access Articles

MIT Libraries homeDSpace@MIT