Show simple item record

dc.contributor.authorZhao, M.
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorDujmic, Denis
dc.contributor.authorTaylor, Frank E
dc.contributor.authorSpitznagel, Michael A
dc.contributor.authorCowan, Ray F
dc.contributor.authorFisher, Peter H
dc.date.accessioned2010-06-03T16:28:04Z
dc.date.available2010-06-03T16:28:04Z
dc.date.issued2009-07
dc.date.submitted2008-08
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/55380
dc.description.abstractWe present a study of B decays into semileptonic final states containing charged and neutral D1(2420) and D2*(2460). The analysis is based on a data sample of 208  fb-1 collected at the Υ(4S) resonance with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B factory at SLAC. With a simultaneous fit to four different decay chains, the semileptonic branching fractions are extracted from measurements of the mass difference Δm=m(D**)-m(D) distributions. Product branching fractions are determined to be B(B+-->D10ℓ+νℓ)×B(D10-->D*+pi-)=(2.97±0.17±0.17)×10[superscript -3], B(B+-->D2*0ℓ+νℓ)×B(D2*0→D(*)+pi-)=(2.29±0.23±0.21)×10[superscript -3], B(B0-->D1-ℓ+νℓ)×B(D1--->D*0pi-)=(2.78±0.24±0.25)×10[superscript -3] and B(B0-->D2*-ℓ+νℓ)×B(D2*- -->D(*)0pi-)=(1.77±0.26±0.11)×10[superscript -3]. In addition we measure the branching ratio Gamma(D2*-->Dpi-)/Gamma(D2*-->D(*)pi-)=0.62±0.03±0.02.en
dc.description.sponsorshipScience and Technology Facilities Council, United Kingdomen
dc.description.sponsorshipMEC (Spain)en
dc.description.sponsorshipMinistry of Education and Science of the Russian Federationen
dc.description.sponsorshipNorges forskningsråden
dc.description.sponsorshipFOM of the Netherlandsen
dc.description.sponsorshipIstituto Nazionale di Fisica Nucleare of Italyen
dc.description.sponsorshipInstitut National de Physique Nucleaire et Physique des Particules/CNRSen
dc.description.sponsorshipDeutsche Forschungsgemeinschaften
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschung, Germanyen
dc.description.sponsorshipCommissariat à l'Energie Atomique (France)en
dc.description.sponsorshipNatural Sciences and Engineering Research Council of Canadaen
dc.description.sponsorshipNational Science Foundationen
dc.description.sponsorshipUnited States Department of Energyen
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.103.051803en
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en
dc.sourceAPSen
dc.titleMeasurement of Semileptonic B Decays into Orbitally Excited Charmed Mesonsen
dc.typeArticleen
dc.identifier.citationBABAR Collaboration et al. “Measurement of Semileptonic B Decays into Orbitally Excited Charmed Mesons.” Physical Review Letters 103.5 (2009): 051803. © 2009 American Physical Society.en
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorZhao, M.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.contributor.mitauthorTaylor, Frank E.
dc.contributor.mitauthorSpitznagel, M.
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorDujmic, Denis
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorFisher, Peter H.
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen
dc.eprint.versionFinal published versionen
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.; Battaglia, M.; Brown, D.; Cahn, R.; Jacobsen, R.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Ronan, M.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Walker, D.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Flacco, C.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Ulmer, K.; Wagner, S.; Ayad, R.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Altenburg, D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Mader, W.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Nash, J.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Lae, C.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; Firmino da Costa, J.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; George, K.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Flaecher, H.; Hopkins, D.; Paramesvaran, S.; Salvatore, F.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Schott, G.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Chia, Y.; Edgar, C.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Li, X.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Benelli, G.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Escalier, M.; Esteve, L.; Ganzhur, S.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Gabareen, A.; Gowdy, S.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perazzo, A.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Yi, K.; Young, C.; Ziegler, V.; Burchat, P.; Edwards, A.; Majewski, S.; Miyashita, T.; Petersen, B.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7586-7253
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8667-5660
mit.licensePUBLISHER_POLICYen
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record