Measurement of the tt-bar production cross section in pp-bar collisions at [sqrt]s=1.96  TeV using soft electron b-tagging

Aaltonen, T.; Adelman, J.; Akimoto, T.; Álvarez González, B.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Annovi, A.; Antos, J.; Apollinari, G.; Apresyan, A.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Aurisano, A.; Azfar, F.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Barria, P.; Bartos, P.; Bartsch, V.; Bauer, G.; Beauchemin, P.-H.; Bedeschi, F.; Beecher, D.; Behari, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Beringer, J.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bizjak, I.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Boisvert, V.; Bolla, G.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Boveia, A.; Brau, B.; Bridgeman, A.; Brigliadori, L.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Budd, S.; Burke, S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Buzatu, A.; Byrum, K. L.; Cabrera, S.; Calancha, C.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Carls, B.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carrillo, S.; Carron, S.; Casal, B.; Casarsa, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cavaliere, V.; Cavalli-Sforza, M.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chang, S. H.; Chen, Y. C.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J. P.; Choudalakis, G.; Chuang, S. H.; Chung, K.; Chung, W. H.; Chung, Y. S.; Chwalek, T.; Ciobanu, C. I.; Ciocci, M. A.; Clark, A.; Clark, D.; Compostella, G.; Convery, M. E.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cortiana, G.; Cox, C. A.; Cox, D. J.; Crescioli, F.; Cuenca Almenar, C.; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Cully, J. C.; Dagenhart, D.; Datta, M.; Davies, T.; de Barbaro, P.; De Cecco, S.; Deisher, A.; De Lorenzo, G.; Dell’Orso, M.; Deluca, C.; Demortier, L.; Deng, J.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Di Canto, A.; di Giovanni, G. P.; Dionisi, C.; Di Ruzza, B.; Dittmann, J. R.; D’Onofrio, M.; Donati, S.; Dong, P.; Donini, J.; Dorigo, T.; Dube, S.; Efron, J.; Elagin, A.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Eusebi, R.; Fang, H. C.; Farrington, S.; Fedorko, W. T.; Feild, R. G.; Feindt, M.; Fernandez, J. P.; Ferrazza, C.; Field, R.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M. J.; Franklin, M.; Freeman, J. C.; Furic, I.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garberson, F.; Garcia, J. E.; Garfinkel, A. F.; Garosi, P.; Genser, K.; Gerberich, H.; Gerdes, D.; Gessler, A.; Giagu, S.; Giakoumopoulou, V.; Giannetti, P.; Gibson, K.; Gimmell, J. L.; Ginsburg, C. M.; Giokaris, N.; Giordani, M.; Giromini, P.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Golossanov, A.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; González, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Grinstein, S.; Grosso-Pilcher, C.; Group, R. C.; Grundler, U.; Guimaraes da Costa, J.; Gunay-Unalan, Z.; Haber, C.; Hahn, K.; Hahn, S. R.; Halkiadakis, E.; Han, B.-Y.; Han, J. Y.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, D.; Hare, M.; Harper, S.; Harr, R. F.; Harris, R. M.; Hartz, M.; Hatakeyama, K.; Hays, C.; Heck, M.; Heijboer, A.; Heinrich, J.; Henderson, C.; Herndon, M.; Heuser, J.; Hewamanage, S.; Hidas, D.; Hill, C. S.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hou, S.; Houlden, M.; Hsu, S.-C.; Huffman, B. T.; Hughes, R. E.; Husemann, U.; Hussein, M.; Huston, J.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ivanov, A.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeon, E. J.; Jha, M. K.; Jindariani, S.; Johnson, W.; Jones, M.; Joo, K. K.; Jun, S. Y.; Jung, J. E.; Junk, T. R.; Kamon, T.; Kar, D.; Karchin, P. E.; Kato, Y.; Kephart, R.; Ketchum, W.; Keung, J.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, H. W.; Kim, J. E.; Kim, M. J.; Kim, S. B.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kimura, N.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Knuteson, B.; Ko, B. R.; Kondo, K.; Kong, D. J.; Konigsberg, J.; Korytov, A.; Kotwal, A. V.; Kreps, M.; Kroll, J.; Krop, D.; Krumnack, N.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kubo, T.; Kuhr, T.; Kulkarni, N. P.; Kurata, M.; Kwang, S.; Laasanen, A. T.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R. L.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; LeCompte, T.; Lee, E.; Lee, H. S.; Lee, S. W.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Lin, C.-S.; Linacre, J.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Lister, A.; Litvintsev, D. O.; Liu, C.; Liu, T.; Lockyer, N. S.; Loginov, A.; Loreti, M.; Lovas, L.; Lucchesi, D.; Luci, C.; Lueck, J.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; MacQueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Makhoul, K.; Maki, T.; Maksimovic, P.; Malde, S.; Malik, S.; Manca, G.; Manousakis-Katsikakis, A.; Margaroli, F.; Marino, C.; Marino, C. P.; Martin, A.; Martin, V.; Martínez, M.; Martínez-Ballarín, R.; Maruyama, T.; Mastrandrea, P.; Masubuchi, T.; Mathis, M.; Mattson, M. E.; Mazzanti, P.; McFarland, K. S.; McIntyre, P.; McNulty, R.; Mehta, A.; Mehtala, P.; Menzione, A.; Merkel, P.; Mesropian, C.; Miao, T.; Miladinovic, N.; Miller, R.; Mills, C.; Milnik, M.; Mitra, A.; Mitselmakher, G.; Miyake, H.; Moed, S.; Moggi, N.; Mondragon, M. N.; Moon, C. S.; Moore, R.; Morello, M. J.; Morlock, J.; Movilla Fernandez, P.; Mülmenstädt, J.; Mukherjee, A.; Muller, Th.; Mumford, R.; Murat, P.; Mussini, M.; Nachtman, J.; Nagai, Y.; Nagano, A.; Naganoma, J.; Nakamura, K.; Nakano, I.; Napier, A.; Necula, V.; Nett, J.; Neu, C.; Neubauer, M. S.; Neubauer, S.; Nielsen, J.; Nodulman, L.; Norman, M.; Norniella, O.; Nurse, E.; Oakes, L.; Oh, S. H.; Oh, Y. D.; Oksuzian, I.; Okusawa, T.; Orava, R.; Osterberg, K.; Pagan Griso, S.; Pagliarone, C.; Palencia, E.; Papadimitriou, V.; Papaikonomou, A.; Paramonov, A. A.; Parks, B.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Peiffer, T.; Pellett, D. E.; Penzo, A.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pianori, E.; Pinera, L.; Pitts, K.; Plager, C.; Pondrom, L.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prakoshyn, F.; Pronko, A.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pueschel, E.; Punzi, G.; Pursley, J.; Rademacker, J.; Rahaman, A.; Ramakrishnan, V.; Ranjan, N.; Redondo, I.; Renton, P.; Renz, M.; Rescigno, M.; Richter, S.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rodriguez, T.; Rogers, E.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossi, M.; Rossin, R.; Roy, P.; Ruiz, A.; Russ, J.; Rusu, V.; Rutherford, B.; Saarikko, H.; Safonov, A.; Sakumoto, W. K.; Saltó, O.; Santi, L.; Sarkar, S.; Sartori, L.; Sato, K.; Savoy-Navarro, A.; Schlabach, P.; Schmidt, A.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. A.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Sexton-Kennedy, L.; Sforza, F.; Sfyrla, A.; Shalhout, S. Z.; Shears, T.; Shepard, P. F.; Shimojima, M.; Shiraishi, S.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Simonenko, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Slaughter, A. J.; Slaunwhite, J.; Sliwa, K.; Smith, J. R.; Snider, F. D.; Snihur, R.; Soha, A.; Somalwar, S.; Sorin, V.; Spreitzer, T.; Squillacioti, P.; Stanitzki, M.; St. Denis, R.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Strycker, G. L.; Suh, J. S.; Sukhanov, A.; Suslov, I.; Suzuki, T.; Taffard, A.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Tanaka, R.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Thom, J.; Thompson, A. S.; Thompson, G. A.; Thomson, E.; Tipton, P.; Ttito-Guzmán, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tokar, S.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Torre, S.; Torretta, D.; Totaro, P.; Tourneur, S.; Trovato, M.; Tsai, S.-Y.; Tu, Y.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Vallecorsa, S.; van Remortel, N.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vázquez, F.; Velev, G.; Vellidis, C.; Vidal, M.; Vidal, R.; Vila, I.; Vilar, R.; Vine, T.; Vogel, M.; Volobouev, I.; Volpi, G.; Wagner, P.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wagner, W.; Wagner-Kuhr, J.; Wakisaka, T.; Wallny, R.; Wang, S. M.; Warburton, A.; Waters, D.; Weinberger, M.; Weinelt, J.; Wester, W. C.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilbur, S.; Williams, G.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wright, T.; Wu, X.; Würthwein, F.; Xie, S.; Yagil, A.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yang, U. K.; Yang, Y. C.; Yao, W. M.; Yeh, G. P.; Yi, K.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, G. B.; Yu, I.; Yu, S. S.; Yun, J. C.; Zanello, L.; Zanetti, A.; Zhang, X.; Zheng, Y.; Zucchelli, S.

Author(s)

Paus, Christoph M. E.; Choudalakis, Georgios; Gomez-Ceballos, Guillelmo; Goncharov, Maxim; Hahn, Kristian Allan; ... Show more

DownloadAaltonen-2010-Measurement of the t.pdf (803.8Kb)

PUBLISHER_POLICY

Alternative title

Measurement of the tt̅ production cross section in pp̅ collisions at √s=1.96 TeV using soft electron b-tagging

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

We present a measurement of the top-quark pair-production cross section in pp̅ collisions at [sqrt]s=1.96 TeV using a data sample corresponding to 1.7 fb-1 of integrated luminosity collected with the Collider Detector at Fermilab. We reconstruct tt̅ events in the lepton+jets channel, consisting of eν+jets and μν+jets final states. The dominant background is the production of W bosons in association with multiple jets. To suppress this background, we identify electrons from the semileptonic decay of heavy-flavor jets (“soft electron tags”). From a sample of 2196 candidate events, we obtain 120 tagged events with a background expectation of 51±3 events, corresponding to a cross section of σtt̅ =7.8±2.4(stat)±1.6(syst)±0.5(lumi) pb. We assume a top-quark mass of 175 GeV/c2. This is the first measurement of the tt̅ cross section with soft electron tags in run II of the Tevatron.

Date issued

2010-05

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/57491

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review D

Publisher

American Physical Society

Citation

CDF Collaboration et al. “Measurement of the tt-bar production cross section in pp-bar collisions at s=1.96 TeV using soft electron b-tagging.” Physical Review D 81.9 (2010): 092002. © 2010 The American Physical Society.

Version: Final published version

ISSN

1550-7998

Collections

MIT Open Access Articles

DSpace@MIT