Show simple item record

dc.contributor.authorDujmic, Denis
dc.contributor.authorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorZhao, M.
dc.contributor.authorCowan, Ray F
dc.contributor.authorFisher, Peter H
dc.contributor.authorSpitznagel, Michael A
dc.date.accessioned2010-09-21T14:16:30Z
dc.date.available2010-09-21T14:16:30Z
dc.date.issued2010-04
dc.date.submitted2010-01
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/58613
dc.description.abstractCharged-lepton flavor-violating processes are unobservable in the standard model, but they are predicted to be enhanced in several extensions to the standard model, including supersymmetry and models with leptoquarks or compositeness. We present a search for such processes in a sample of 99×10[superscript 6]Υ(2S) decays and 117×10[superscript 6]Υ(3S) decays collected with the BABAR detector. We place upper limits on the branching fractions B(Υ(nS)→e[superscript ±]τ[superscript ∓]) and B(Υ(nS)→μ[superscript ±]τ[superscript ∓]) (n=2,3) at the 10[superscript -6] level and use these results to place lower limits of order 1 TeV on the mass scale of charged-lepton flavor-violating effective operators.en_US
dc.description.sponsorshipUnited States. Dept. of Energyen_US
dc.description.sponsorshipNational Science Foundationen_US
dc.description.sponsorshipNatural Sciences and Engineering Research Council of Canadaen_US
dc.description.sponsorshipCommissariat à l'Energie Atomique (France)en_US
dc.description.sponsorshipInstitut National de Physique Nucléaire and de Physique des Particulesen_US
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschung, Germanyen_US
dc.description.sponsorshipDeutsche Forschungsgemeinschaften_US
dc.description.sponsorshipIstituto Nazionale di Fisica Nucleare of Italyen_US
dc.description.sponsorshipFoundation for Fundamental Research on Matter, The Netherlandsen_US
dc.description.sponsorshipNorges forskningsråden_US
dc.description.sponsorshipMinistry of Education and Science of the Russian Federationen_US
dc.description.sponsorshipMinisterio de Educación y Ciencia, Spainen_US
dc.description.sponsorshipScience and Technology Facilities Council, United Kingdomen_US
dc.description.sponsorshipMarie Curie International Fellowshipen_US
dc.description.sponsorshipAlfred P. Sloan Foundationen_US
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.104.151802en_US
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en_US
dc.sourceAPSen_US
dc.titleSearch for Charged Lepton Flavor Violation in Narrow Gamma Decaysen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.citationBABAR Collaboration et al. “Search for Charged Lepton Flavor Violation in Narrow Upsilon Decays.” Physical Review Letters 104.15 (2010): 151802. © 2010 The American Physical Societyen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorDujmic, Denis
dc.contributor.mitauthorFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorSpitznagel, M.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.contributor.mitauthorZhao, M.
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen_US
dc.eprint.versionFinal published versionen_US
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen_US
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden_US
dspace.orderedauthorsLees, J. P.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Martinelli, M.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Hooberman, B.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Lynch, G.; Osipenkov, I. L.; Tanabe, T.; Hawkes, C. M.; Soni, N.; Watson, A. T.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D. J.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; Barrett, M.; Khan, A.; Randle-Conde, A.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Yushkov, A. N.; Bondioli, M.; Curry, S.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E. C.; Stoker, D. P.; Atmacan, H.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G. M.; Yasin, Z.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Eisner, A. M.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Martinez, A. J.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Winstrom, L. O.; Cheng, C. H.; Doll, D. A.; Echenard, B.; Hitlin, D. G.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Rakitin, A. Y.; Andreassen, R.; Dubrovin, M. S.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Bloom, P. C.; Ford, W. T.; Gaz, A.; Hirschauer, J. F.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Ayad, R.; Toki, W. H.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, T. M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M. J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Playfer, S.; Watson, J. E.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Franchini, P.; Luppi, E.; Munerato, M.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Nicolaci, M.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Tosi, S.; Bhuyan, B.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bernlochner, F. U.; Lacker, H. M.; Lueck, T.; Volk, A.; Dauncey, P. D.; Tibbetts, M.; Behera, P. K.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gao, Y. Y.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Firmino da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A. M.; Malaescu, B.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, L.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Bingham, I.; Burke, J. P.; Chavez, C. A.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Alwyn, K. E.; Bailey, D.; Barlow, R. J.; Jackson, G.; Lafferty, G. D.; West, T. J.; Anderson, J.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Tuggle, J. M.; Dallapiccola, C.; Salvati, E.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P. H.; Henderson, S. W.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Yamamoto, R. K.; Zhao, M.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Schram, M.; Biassoni, P.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Stracka, S.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Nguyen, X.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Knoepfel, K. J.; LoSecco, J. M.; Wang, W. F.; Corwin, L. A.; Honscheid, K.; Kass, R.; Morris, J. P.; Rahimi, A. M.; Sekula, S. J.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Bonneaud, G. R.; Briand, H.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Biasini, M.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P. D.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M. A.; Piredda, G.; Renga, F.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Hamel de Monchenault, G.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bard, D. J.; Bartoldus, R.; Benitez, J. F.; Cenci, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Franco Sevilla, M.; Fulsom, B. G.; Gabareen, A. M.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kaminski, J.; Kelsey, M. H.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; MacFarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C. P.; Ofte, I.; Perl, M.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va’vra, J.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; West, C. A.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Wulsin, H. W.; Yarritu, A. K.; Young, C. C.; Ziegler, V.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; White, R. M.; Wilson, J. R.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Miyashita, T. S.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Zain, S. B.; Guttman, N.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Wogsland, B. J.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Wray, B. C.; Drummond, B. W.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D. A.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Choi, H. H. F.; Hamano, K.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M. J.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Ilic, J.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Puccio, E. M. T.; Band, H. R.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K. T.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C. O.; Wu, S. L.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8667-5660
mit.licensePUBLISHER_POLICYen_US
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record