Show simple item record

dc.contributor.authorGomez-Ceballos, Guillelmo
dc.contributor.authorGoncharov, Maxim
dc.contributor.authorMakhoul, Khaldoun
dc.contributor.authorPaus, Christoph M. E.
dc.contributor.authorBauer, Gerry P
dc.date.accessioned2011-05-19T21:08:32Z
dc.date.available2011-05-19T21:08:32Z
dc.date.issued2011-02
dc.date.submitted2010-04
dc.identifier.issn1550-7998
dc.identifier.issn1550-2368
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/62849
dc.description.abstractThe collection of a large number of B-hadron decays to hadronic final states at the CDF II Detector is possible due to the presence of a trigger that selects events based on track impact parameters. However, the nature of the selection requirements of the trigger introduces a large bias in the observed proper-decay-time distribution. A lifetime measurement must correct for this bias, and the conventional approach has been to use a Monte Carlo simulation. The leading sources of systematic uncertainty in the conventional approach are due to differences between the data and the Monte Carlo simulation. In this paper, we present an analytic method for bias correction without using simulation, thereby removing any uncertainty due to the differences between data and simulation. This method is presented in the form of a measurement of the lifetime of the B- using the mode B-→D0π- [B- →D superscript 0 pi-]. The B- lifetime is measured as τB-=1.663±0.023±0.015 ps [T subscript B-=1.663±0.023±0.015 ps], where the first uncertainty is statistical and the second systematic. This new method results in a smaller systematic uncertainty in comparison to methods that use simulation to correct for the trigger bias.en_US
dc.description.sponsorshipUnited States. Dept. of Energyen_US
dc.description.sponsorshipNational Science Foundation (U.S.)en_US
dc.description.sponsorshipAlfred P. Sloan Foundationen_US
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.83.032008en_US
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en_US
dc.sourceAPSen_US
dc.titleMeasurement of the B- lifetime using a simulation free approach for trigger bias correctionen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.citationAaltonen, T. et al. “Measurement of the B- lifetime using a simulation free approach for trigger bias correction.” Physical Review D 83.3 (2011) : n. pag. © 2011 American Physical Societyen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverPaus, Christoph M. E.
dc.contributor.mitauthorBauer, Gerry P.
dc.contributor.mitauthorGomez-Ceballos, Guillelmo
dc.contributor.mitauthorGoncharov, Maxim
dc.contributor.mitauthorMakhoul, Khaldoun
dc.contributor.mitauthorPaus, Christoph M. E.
dc.relation.journalPhysical review Den_US
dc.eprint.versionFinal published versionen_US
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen_US
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden_US
dspace.orderedauthorsAaltonen, T.; Adelman, J.; Álvarez González, B.; Amerio, S.; Amidei, D.; Anastassov, A.; Annovi, A.; Antos, J.; Apollinari, G.; Appel, J.; Apresyan, A.; Arisawa, T.; Artikov, A.; Asaadi, J.; Ashmanskas, W.; Attal, A.; Aurisano, A.; Azfar, F.; Badgett, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V.; Barnett, B.; Barria, P.; Bartos, P.; Bauer, G.; Beauchemin, P.-H.; Bedeschi, F.; Beecher, D.; Behari, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Beretvas, A.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bizjak, I.; Blair, R.; Blocker, C.; Blumenfeld, B.; Bocci, A.; Bodek, A.; Boisvert, V.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Boveia, A.; Brau, B.; Bridgeman, A.; Brigliadori, L.; Bromberg, C.; Brubaker, E.; Budagov, J.; Budd, H.; Budd, S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Bussey, P.; Buzatu, A.; Byrum, K.; Cabrera, S.; Calancha, C.; Camarda, S.; Campanelli, M.; Campbell, M.; Canelli, F.; Canepa, A.; Carls, B.; Carlsmith, D.; Carosi, R.; Carrillo, S.; Carron, S.; Casal, B.; Casarsa, M.; Castro, A.; Catastini, P.; Cauz, D.; Cavaliere, V.; Cavalli-Sforza, M.; Cerri, A.; Cerrito, L.; Chang, S.; Chen, Y.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Cho, K.; Chokheli, D.; Chou, J.; Chung, K.; Chung, W.; Chung, Y.; Chwalek, T.; Ciobanu, C.; Ciocci, M.; Clark, A.; Clark, D.; Compostella, G.; Convery, M.; Conway, J.; Corbo, M.; Cordelli, M.; Cox, C.; Cox, D.; Crescioli, F.; Cuenca Almenar, C.; Cuevas, J.; Culbertson, R.; Cully, J.; Dagenhart, D.; d’Ascenzo, N.; Datta, M.; Davies, T.; de Barbaro, P.; De Cecco, S.; Deisher, A.; De Lorenzo, G.; Dell’Orso, M.; Deluca, C.; Demortier, L.; Deng, J.; Deninno, M.; d’Errico, M.; Di Canto, A.; Di Ruzza, B.; Dittmann, J.; D’Onofrio, M.; Donati, S.; Dong, P.; Dorigo, T.; Dube, S.; Ebina, K.; Elagin, A.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Ershaidat, N.; Eusebi, R.; Fang, H.; Farrington, S.; Fedorko, W.; Feild, R.; Feindt, M.; Fernandez, J.; Ferrazza, C.; Field, R.; Flanagan, G.; Forrest, R.; Frank, M.; Franklin, M.; Freeman, J.; Furic, I.; Gallinaro, M.; Galyardt, J.; Garberson, F.; Garcia, J.; Garfinkel, A.; Garosi, P.; Gerberich, H.; Gerdes, D.; Gessler, A.; Giagu, S.; Giakoumopoulou, V.; Giannetti, P.; Gibson, K.; Gimmell, J.; Ginsburg, C.; Giokaris, N.; Giordani, M.; Giromini, P.; Giunta, M.; Giurgiu, G.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldschmidt, N.; Golossanov, A.; Gomez, G.; Gomez-Ceballos, G.; Goncharov, M.; González, O.; Gorelov, I.; Goshaw, A.; Goulianos, K.; Gresele, A.; Grinstein, S.; Grosso-Pilcher, C.; Group, R.; Grundler, U.; Guimaraes da Costa, J.; Gunay-Unalan, Z.; Haber, C.; Hahn, S.; Halkiadakis, E.; Han, B.-Y.; Han, J.; Happacher, F.; Hara, K.; Hare, D.; Hare, M.; Harr, R.; Hartz, M.; Hatakeyama, K.; Hays, C.; Heck, M.; Heinrich, J.; Herndon, M.; Heuser, J.; Hewamanage, S.; Hidas, D.; Hill, C.; Hirschbuehl, D.; Hocker, A.; Hou, S.; Houlden, M.; Hsu, S.-C.; Hughes, R.; Huffman, B.; Hurwitz, M.; Husemann, U.; Hussein, M.; Huston, J.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iori, M.; Ivanov, A.; James, E.; Jang, D.; Jayatilaka, B.; Jeon, E.; Jha, M.; Jindariani, S.; Johnson, W.; Jones, M.; Joo, K.; Jun, S.; Jung, J.; Junk, T.; Kamon, T.; Kar, D.; Karchin, P.; Kato, Y.; Kephart, R.; Ketchum, W.; Keung, J.; Khotilovich, V.; Kilminster, B.; Kim, D.; Kim, H.; Kim, H.; Kim, J.; Kim, M.; Kim, S.; Kim, S.; Kim, Y.; Kimura, N.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Kondo, K.; Kong, D.; Konigsberg, J.; Korytov, A.; Kotwal, A.; Kreps, M.; Kroll, J.; Krop, D.; Krumnack, N.; Kruse, M.; Krutelyov, V.; Kuhr, T.; Kulkarni, N.; Kurata, M.; Kwang, S.; Laasanen, A.; Lami, S.; Lammel, S.; Lancaster, M.; Lander, R.; Lannon, K.; Lath, A.; Latino, G.; Lazzizzera, I.; LeCompte, T.; Lee, E.; Lee, H.; Lee, J.; Lee, S.; Leone, S.; Lewis, J.; Lin, C.-J.; Linacre, J.; Lindgren, M.; Lipeles, E.; Lister, A.; Litvintsev, D.; Liu, C.; Liu, T.; Lockyer, N.; Loginov, A.; Lovas, L.; Lucchesi, D.; Lueck, J.; Lujan, P.; Lukens, P.; Lungu, G.; Lyons, L.; Lys, J.; Lysak, R.; MacQueen, D.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Makhoul, K.; Maksimovic, P.; Malde, S.; Malik, S.; Manca, G.; Manousakis-Katsikakis, A.; Margaroli, F.; Marino, C.; Marino, C.; Martin, A.; Martin, V.; Martínez, M.; Martínez-Ballarín, R.; Mastrandrea, P.; Mathis, M.; Mattson, M.; Mazzanti, P.; McFarland, K.; McIntyre, P.; McNulty, R.; Mehta, A.; Mehtala, P.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Miao, T.; Mietlicki, D.; Miladinovic, N.; Miller, R.; Mills, C.; Milnik, M.; Mitra, A.; Mitselmakher, G.; Miyake, H.; Moed, S.; Moggi, N.; Mondragon, M.; Moon, C.; Moore, R.; Morello, M.; Morlock, J.; Movilla Fernandez, P.; Mülmenstädt, J.; Mukherjee, A.; Muller, Th.; Murat, P.; Mussini, M.; Nachtman, J.; Nagai, Y.; Naganoma, J.; Nakamura, K.; Nakano, I.; Napier, A.; Nett, J.; Neu, C.; Neubauer, M.; Neubauer, S.; Nielsen, J.; Nodulman, L.; Norman, M.; Norniella, O.; Nurse, E.; Oakes, L.; Oh, S.; Oh, Y.; Oksuzian, I.; Okusawa, T.; Orava, R.; Osterberg, K.; Pagan Griso, S.; Pagliarone, C.; Palencia, E.; Papadimitriou, V.; Papaikonomou, A.; Paramanov, A.; Parks, B.; Pashapour, S.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Peiffer, T.; Pellett, D.; Penzo, A.; Phillips, T.; Piacentino, G.; Pianori, E.; Pinera, L.; Pitts, K.; Plager, C.; Pondrom, L.; Potamianos, K.; Poukhov, O.; Pounder, N.; Prokoshin, F.; Pronko, A.; Ptohos, F.; Pueschel, E.; Punzi, G.; Pursley, J.; Rademacker, J.; Rahaman, A.; Ramakrishnan, V.; Ranjan, N.; Redondo, I.; Renton, P.; Renz, M.; Rescigno, M.; Richter, S.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robson, A.; Rodrigo, T.; Rodriguez, T.; Rogers, E.; Rolli, S.; Roser, R.; Rossi, M.; Rossin, R.; Roy, P.; Ruiz, A.; Russ, J.; Rusu, V.; Rutherford, B.; Saarikko, H.; Safonov, A.; Sakumoto, W.; Santi, L.; Sartori, L.; Sato, K.; Saveliev, V.; Savoy-Navarro, A.; Schlabach, P.; Schmidt, A.; Schmidt, E.; Schmidt, M.; Schmidt, M.; Schmitt, M.; Schwarz, T.; Scodellaro, L.; Scribano, A.; Scuri, F.; Sedov, A.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Sexton-Kennedy, L.; Sforza, F.; Sfyrla, A.; Shalhout, S.; Shears, T.; Shepard, P.; Shimojima, M.; Shiraishi, S.; Shochet, M.; Shon, Y.; Shreyber, I.; Simonenko, A.; Sinervo, P.; Sisakyan, A.; Slaughter, A.; Slaunwhite, J.; Sliwa, K.; Smith, J.; Snider, F.; Snihur, R.; Soha, A.; Somalwar, S.; Sorin, V.; Squillacioti, P.; Stanitzki, M.; St. Denis, R.; Stelzer, B.; Stelzer-Chilton, O.; Stentz, D.; Strologas, J.; Strycker, G.; Suh, J.; Sukhanov, A.; Suslov, I.; Taffard, A.; Takashima, R.; Takeuchi, Y.; Tanaka, R.; Tang, J.; Tecchio, M.; Teng, P.; Thom, J.; Thome, J.; Thompson, G.; Thomson, E.; Tipton, P.; Ttito-Guzmán, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tokar, S.; Tollefson, K.; Tomura, T.; Tonelli, D.; Torre, S.; Torretta, D.; Totaro, P.; Trovato, M.; Tsai, S.-Y.; Tu, Y.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Uozumi, S.; van Remortel, N.; Varganov, A.; Vataga, E.; Vázquez, F.; Velev, G.; Vellidis, C.; Vidal, M.; Vila, I.; Vilar, R.; Vogel, M.; Volobouev, I.; Volpi, G.; Wagner, P.; Wagner, R.; Wagner, R.; Wagner, W.; Wagner-Kuhr, J.; Wakisaka, T.; Wallny, R.; Wang, S.; Warburton, A.; Waters, D.; Weinberger, M.; Weinelt, J.; Wester, W.; Whitehouse, B.; Whiteson, D.; Wicklund, A.; Wicklund, E.; Wilbur, S.; Williams, G.; Williams, H.; Wilson, P.; Winer, B.; Wittich, P.; Wolbers, S.; Wolfe, C.; Wolfe, H.; Wright, T.; Wu, X.; Würthwein, F.; Yagil, A.; Yamamoto, K.; Yamaoka, J.; Yang, U.; Yang, Y.; Yao, W.; Yeh, G.; Yi, K.; Yoh, J.; Yorita, K.; Yoshida, T.; Yu, G.; Yu, I.; Yu, S.; Yun, J.; Zanetti, A.; Zeng, Y.; Zhang, X.; Zheng, Y.; Zucchelli, S.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-6047-4211
mit.licensePUBLISHER_POLICYen_US
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record