Measurement of the B-->D[over-bar][superscript  (*)]D[superscript (*)]K branching fractions

del Amo Sanchez, P.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Martinelli, M.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Battaglia, M.; Brown, D.; Hooberman, B.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Khan, A.; Randle-Conde, A.; Blinov, V.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Yushkov, A.; Bondioli, M.; Curry, S.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Atmacan, H.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Richman, J.; West, C.; Eisner, A.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Hitlin, D.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F.; Rakitin, A.; Andreassen, R.; Dubrovin, M.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Toki, W.; Jasper, H.; Karbach, T.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Franchini, P.; Luppi, E.; Munerato, M.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Nicolaci, M.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Tosi, S.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Lee, C.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Uwer, U.; Bernlochner, F.; Ebert, M.; Lacker, H.; Lueck, T.; Volk, A.; Dauncey, P.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Firmino da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lutz, A.; Malaescu, B.; Perez, A.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, L.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Chavez, C.; Coleman, J.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Jackson, G.; Lafferty, G.; Anderson, J.; Cenci, R.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Salvati, E.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Sciolla, G.; Zhao, M.; Lindemann, D.; Patel, P.; Robertson, S.; Schram, M.; Biassoni, P.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Stracka, S.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D.; Nguyen, X.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kass, R.; Morris, J.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Feltresi, E.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Ben-Haim, E.; Bonneaud, G.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Prendki, J.; Sitt, S.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Piredda, G.; Renga, F.; Hartmann, T.; Leddig, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Hamel de Monchenault, G.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Allen, M.; Aston, D.; Bard, D.; Bartoldus, R.; Benitez, J.; Cartaro, C.; Convery, M.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Franco Sevilla, M.; Fulsom, B.; Gabareen, A.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Santoro, V.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Sun, S.; Suzuki, K.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Young, C.; Ziegler, V.; Chen, X.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Sekula, S.; Bellis, M.; Burchat, P.; Edwards, A.; Miyashita, T.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Guttman, N.; Soffer, A.; Lund, P.; Spanier, S.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Wray, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Choi, H.; Hamano, K.; King, G.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Latham, T.; Puccio, E.; Band, H.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.

Author(s)

Dujmic, Denis; Sciolla, Gabriella; Zhao, M.; Cowan, Ray F

DownloadSanchez-2011-Measurement of the B.pdf (646.1Kb)

PUBLISHER_POLICY

Alternative title

Measurement of the B→D̅ (*)D(*)K branching fractions

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

We present a measurement of the branching fractions of the 22 decay channels of the B0 and B+ mesons to D[over-bar][superscript (*)]D[superscript (*)]K, where the D[superscript (*)] and D[over-bar] [superscript (*)] mesons are fully reconstructed. Summing the 10 neutral modes and the 12 charged modes, the branching fractions are found to be B(B0-->D[over-bar] D[over-bar][superscript (*)]D[superscript (*)]K=(3.68±0.10±0.24)% and B(B+-->D[over-bar] D[over-bar][superscript (*)]D[superscript (*)]K=(4.05±0.11±0.28)%, where the first uncertainties are statistical and the second systematic. The results are based on 429 fb[superscript -1] of data containing 471×106BB[over-bar] pairs collected at the Υ(4S) resonance with the BABAR detector at the SLAC National Accelerator Laboratory.

Date issued

2011-02

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/66119

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review D

Publisher

American Physical Society

Citation

Pan, Z.-H. et al. (BABAR Collaboration). “Electronic Structure of the Topological Insulator Bi_{2}Se_{3} Using Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy: Evidence for a Nearly Full Surface Spin Polarization.” Physical Review Letters 106 (2011).© 2011 American Physical Society.

Version: Final published version

ISSN

1550-7998

1550-2368

Collections

MIT Open Access Articles

DSpace@MIT