Show simple item record

dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorCowan, Ray F
dc.contributor.authorTaylor, Frank E
dc.date.accessioned2012-03-23T18:40:06Z
dc.date.available2012-03-23T18:40:06Z
dc.date.issued2004-08
dc.date.submitted2004-03
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.issn1079-7114
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/69846
dc.description.abstractWe establish upper limits on branching fractions for B⁰ decays to final states where the decay products are purely invisible (i.e., no observable final state particles) and for B⁰ decays to νν̅ γ. Within the standard model, these decays have branching fractions that are below current experimental sensitivity, but various models of physics beyond the standard model predict significant contributions from these channels. Using 88.5×10⁶ BB̅ pairs collected at the Υ(4S) resonance by the BABAR experiment at the PEP-II e⁺e⁻ storage ring at the Stanford Linear Accelerator Center, we establish upper limits at the 90% confidence level of 22×10⁻⁵ for the branching fraction of B⁰→invisible and 4.7×10⁻⁵ for the branching fraction of B⁰→νν̅ γ.en_US
dc.description.sponsorshipAlfred P. Sloan Foundationen_US
dc.description.sponsorshipResearch Corporationen_US
dc.description.sponsorshipAlexander von Humboldt-Stiftungen_US
dc.description.sponsorshipUnited States. Dept. of Energyen_US
dc.description.sponsorshipNational Science Foundation (U.S.)en_US
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Society (APS)en_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.93.091802en_US
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en_US
dc.sourceAPSen_US
dc.titleSearch for B⁰ Decays to Invisible Final States and to νν̅ γen_US
dc.title.alternativeSearch for B0 Decays to Invisible Final States and to νν̅ γen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.citationAubert, B. et al. “Search for B0 Decays to Invisible Final States and to Νν¯γ.” Physical Review Letters 93.9 (2004): Web. 23 Mar. 2012. © 2004 American Physical Societyen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorTaylor, Frank E.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen_US
dc.eprint.versionFinal published versionen_US
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen_US
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden_US
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Gaillard, J.-M.; Hicheur, A.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Palano, A.; Pompili, A.; Chen, J.; Qi, N.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G.; Borgland, A.; Breon, A.; Brown, D.; Button-Shafer, J.; Cahn, R.; Charles, E.; Day, C.; Gill, M.; Gritsan, A.; Groysman, Y.; Jacobsen, R.; Kadel, R.; Kadyk, J.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Kukartsev, G.; Lynch, G.; Mir, L.; Oddone, P.; Orimoto, T.; Pripstein, M.; Roe, N.; Ronan, M.; Shelkov, V.; Wenzel, W.; Barrett, M.; Ford, K.; Harrison, T.; Hart, A.; Hawkes, C.; Morgan, S.; Watson, A.; Fritsch, M.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Steinke, M.; Boyd, J.; Chevalier, N.; Cottingham, W.; Kelly, M.; Latham, T.; Wilson, F.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Hearty, C.; Knecht, N.; Mattison, T.; McKenna, J.; Thiessen, D.; Khan, A.; Kyberd, P.; Teodorescu, L.; Blinov, V.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Ivanchenko, V.; Kravchenko, E.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Yushkov, A.; Best, D.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Mandelkern, M.; Mommsen, R.; Roethel, W.; Stoker, D.; Buchanan, C.; Hartfiel, B.; Foulkes, S.; Gary, J.; Shen, B.; Wang, K.; del Re, D.; Hadavand, H.; Hill, E.; MacFarlane, D.; Paar, H.; Rahatlou, Sh.; Sharma, V.; Berryhill, J.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Levy, S.; Long, O.; Lu, A.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Beck, T.; Eisner, A.; Heusch, C.; Lockman, W.; Schalk, T.; Schmitz, R.; Schumm, B.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D.; Wilson, M.; Albert, J.; Chen, E.; Dubois-Felsmann, G.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Ryd, A.; Samuel, A.; Yang, S.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Sokoloff, M.; Abe, T.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Ford, W.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Rankin, P.; Smith, J.; Zhang, J.; Zhang, L.; Chen, A.; Harton, J.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Zeng, Q.; Altenburg, D.; Brandt, T.; Brose, J.; Dickopp, M.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Lacker, H.; Müller-Pfefferkorn, R.; Nogowski, R.; Otto, S.; Petzold, A.; Schubert, J.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Spaan, B.; Sundermann, J.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Brochard, F.; Grenier, P.; Schrenk, S.; Thiebaux, Ch.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Bard, D.; Clark, P.; Lavin, D.; Muheim, F.; Playfer, S.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Azzolini, V.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Sarti, A.; Treadwell, E.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Crosetti, G.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Bailey, S.; Brandenburg, G.; Morii, M.; Won, E.; Dubitzky, R.; Langenegger, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D.; Dauncey, P.; Egede, U.; Gaillard, J.; Morton, G.; Nash, J.; Taylor, G.; Charles, M.; Grenier, G.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Lamsa, J.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Yi, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Laplace, S.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Petersen, T.; Plaszczynski, S.; Schune, M.; Tantot, L.; Wormser, G.; Cheng, C.; Lange, D.; Simani, M.; Wright, D.; Bevan, A.; Chavez, C.; Coleman, J.; Forster, I.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Parry, R.; Payne, D.; Sloane, R.; Touramanis, C.; Back, J.; Cormack, C.; Harrison, P.; Di Lodovico, F.; Mohanty, G.; Brown, C.; Cowan, G.; Flack, R.; Flaecher, H.; Green, M.; Jackson, P.; McMahon, T.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Winter, M.; Brown, D.; Davis, C.; Allison, J.; Barlow, N.; Barlow, R.; Hart, P.; Hodgkinson, M.; Lafferty, G.; Lyon, A.; Williams, J.; Farbin, A.; Hulsbergen, W.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C.; Lillard, V.; Roberts, D.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Flood, K.; Hertzbach, S.; Kofler, R.; Koptchev, V.; Moore, T.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.; Cowan, R.; Sciolla, G.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Mangeol, D.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Brunet, S.; Côté, D.; Taras, P.; Nicholson, H.; Cavallo, N.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Bulten, H.; Raven, G.; Wilden, L.; Jessop, C.; LoSecco, J.; Gabriel, T.; Allmendinger, T.; Brau, B.; Gan, K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Rahimi, A.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Potter, C.; Sinev, N.; Strom, D.; Torrence, E.; Colecchia, F.; Dorigo, A.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Tiozzo, G.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; de la Vaissière, Ch.; Del Buono, L.; Hamon, O.; John, M.; Leruste, Ph.; Malcles, J.; Ocariz, J.; Pivk, M.; Roos, L.; T’Jampens, S.; Therin, G.; Manfredi, P.; Re, V.; Behera, P.; Gladney, L.; Guo, Q.; Panetta, J.; Anulli, F.; Biasini, M.; Peruzzi, I.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Del Gamba, V.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinez-Vidal, F.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Paick, K.; Wagoner, D.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lau, Y.; Lu, C.; Miftakov, V.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Bellini, F.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Pierini, M.; Piredda, G.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Christ, S.; Wagner, G.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Geddes, N.; Gopal, G.; Olaiya, E.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S.; Giraud, P.-F.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Langer, M.; Legendre, M.; London, G.; Mayer, B.; Schott, G.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Purohit, M.; Weidemann, A.; Wilson, J.; Yumiceva, F.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Berger, N.; Boyarski, A.; Buchmueller, O.; Convery, M.; Cristinziani, M.; De Nardo, G.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Elsen, E.; Fan, S.; Field, R.; Glanzman, T.; Gowdy, S.; Hadig, T.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn’ova, T.; Innes, W.; Kelsey, M.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; O’Grady, C.; Ozcan, V.; Perazzo, A.; Perl, M.; Petrak, S.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Simi, G.; Snyder, A.; Soha, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M.; Va’vra, J.; Wagner, S.; Weaver, M.; Weinstein, A.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Yarritu, A.; Young, C.; Burchat, P.; Edwards, A.; Meyer, T.; Petersen, B.; Roat, C.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Saeed, M.; Saleem, M.; Wappler, F.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S.; Eckmann, R.; Kim, H.; Ritchie, J.; Satpathy, A.; Schwitters, R.; Izen, J.; Kitayama, I.; Lou, X.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Borean, C.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Vitale, L.; Vuagnin, G.; Panvini, R.; Banerjee, Sw.; Brown, C.; Fortin, D.; Jackson, P.; Kowalewski, R.; Roney, J.; Band, H.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A.; Graham, M.; Hollar, J.; Johnson, J.; Kutter, P.; Li, H.; Liu, R.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A.; Pan, Y.; Prepost, R.; Rubin, A.; Sekula, S.; Tan, P.; von Wimmersperg-Toeller, J.; Wu, J.; Wu, S.; Yu, Z.; Greene, M.; Neal, H.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7586-7253
mit.licensePUBLISHER_POLICYen_US
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record