Show simple item record

dc.contributor.authorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorTaylor, Frank E.
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.date.accessioned2012-05-18T20:48:07Z
dc.date.available2012-05-18T20:48:07Z
dc.date.issued2004-06
dc.date.submitted2004-01
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.issn1079-7114
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/70886
dc.description.abstractWe study B[superscript ±]→J/ψπ[superscript ±] and B[superscript ±]→J/ψK[superscript ±] decays in a sample of about 89×10[superscript 6] BB̅ pairs collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric B factory at SLAC. We observe a signal of 244±20 B[superscript ±]→J/ψπ[superscript ±] events and determine the ratio B(B[superscript ±]→J/ψπ[superscript ±])/B(B[superscript ±]→J/ψK±) to be [5.37±0.45(stat)±0.11(syst)]%. The charge asymmetries for the B[superscript ±]→J/ψπ[superscript ±] and B[superscript ±]→J/ψ[superscript ±] decays are determined to be A[subscript π]=0.123±0.085(stat)±0.004(syst) and A[subscript K]=0.030±0.015(stat)±0.006(syst), respectively.en_US
dc.description.sponsorshipUnited States. Dept. of Energyen_US
dc.description.sponsorshipNational Science Foundation (U.S.)en_US
dc.description.sponsorshipAlfred P. Sloan Foundationen_US
dc.description.sponsorshipAlexander von Humboldt-Stiftungen_US
dc.description.sponsorshipResearch Corporationen_US
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen_US
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.92.241802en_US
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en_US
dc.sourceAPSen_US
dc.titleStudy of B[superscript ±]→J/ψπ[superscript ±] and B[superscript ±]→J/ψK[superscript ±] Decays: Measurement of the Ratio of Branching Fractions and Search for Direct CP Violationen_US
dc.title.alternativeStudy of B±→J/ψπ± and B±→J/ψK± Decays: Measurement of the Ratio of Branching Fractions and Search for Direct CP Violationen_US
dc.typeArticleen_US
dc.identifier.citationAubert, B. et al. “Study of B±→J/ψπ± and B±→J/ψK± Decays: Measurement of the Ratio of Branching Fractions and Search for Direct CP Violation.” Physical Review Letters 92.24 (2004): Web. 18 May 2012. © 2004 American Physical Societyen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorTaylor, Frank E.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen_US
dc.eprint.versionFinal published versionen_US
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen_US
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden_US
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Barate, R.; Boutigny, D.; Couderc, F.; Gaillard, J.-M.; Hicheur, A.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Palano, A.; Pompili, A.; Chen, J.; Qi, N.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y.; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Abrams, G.; Borgland, A.; Breon, A.; Brown, D.; Button-Shafer, J.; Cahn, R.; Charles, E.; Day, C.; Gill, M.; Gritsan, A.; Groysman, Y.; Jacobsen, R.; Kadel, R.; Kadyk, J.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Kukartsev, G.; LeClerc, C.; Levi, M.; Lynch, G.; Mir, L.; Oddone, P.; Orimoto, T.; Pripstein, M.; Roe, N.; Ronan, M.; Shelkov, V.; Telnov, A.; Wenzel, W.; Ford, K.; Harrison, T.; Hawkes, C.; Morgan, S.; Watson, A.; Watson, N.; Fritsch, M.; Goetzen, K.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Steinke, M.; Boyd, J.; Chevalier, N.; Cottingham, W.; Kelly, M.; Latham, T.; Wilson, F.; Abe, K.; Cuhadar-Donszelmann, T.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Thiessen, D.; Kyberd, P.; Teodorescu, L.; Blinov, V.; Bukin, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Ivanchenko, V.; Kravchenko, E.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Yushkov, A.; Best, D.; Bruinsma, M.; Chao, M.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Mandelkern, M.; Mommsen, R.; Roethel, W.; Stoker, D.; Buchanan, C.; Hartfiel, B.; Gary, J.; Shen, B.; Wang, K.; del Re, D.; Hadavand, H.; Hill, E.; MacFarlane, D.; Paar, H.; Rahatlou, Sh.; Sharma, V.; Berryhill, J.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Levy, S.; Long, O.; Lu, A.; Mazur, M.; Richman, J.; Verkerke, W.; Beck, T.; Eisner, A.; Heusch, C.; Lockman, W.; Schalk, T.; Schmitz, R.; Schumm, B.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Williams, D.; Wilson, M.; Albert, J.; Chen, E.; Dubois-Felsmann, G.; Dvoretskii, A.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Ryd, A.; Samuel, A.; Yang, S.; Jayatilleke, S.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Sokoloff, M.; Abe, T.; Blanc, F.; Bloom, P.; Chen, S.; Clark, P.; Ford, W.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Rankin, P.; Smith, J.; van Hoek, W.; Zhang, L.; Harton, J.; Hu, T.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Altenburg, D.; Brandt, T.; Brose, J.; Colberg, T.; Dickopp, M.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Lacker, H.; Maly, E.; Müller-Pfefferkorn, R.; Nogowski, R.; Otto, S.; Schubert, J.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Spaan, B.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Brochard, F.; Grenier, P.; Thiebaux, Ch.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Bard, D.; Khan, A.; Lavin, D.; Muheim, F.; Playfer, S.; Andreotti, M.; Azzolini, V.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Luppi, E.; Negrini, M.; Sarti, A.; Treadwell, E.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Piccolo, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Capra, R.; Contri, R.; Crosetti, G.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Bailey, S.; Brandenburg, G.; Morii, M.; Won, E.; Dubitzky, R.; Langenegger, U.; Bhimji, W.; Bowerman, D.; Dauncey, P.; Egede, U.; Gaillard, J.; Morton, G.; Nash, J.; Taylor, G.; Grenier, G.; Lee, S.-J.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Lamsa, J.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Yi, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Höcker, A.; Laplace, S.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Petersen, T.; Plaszczynski, S.; Schune, M.; Tantot, L.; Wormser, G.; Cheng, C.; Lange, D.; Simani, M.; Wright, D.; Bevan, A.; Coleman, J.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Kay, M.; Parry, R.; Payne, D.; Sloane, R.; Touramanis, C.; Back, J.; Harrison, P.; Mohanty, G.; Brown, C.; Cowan, G.; Flack, R.; Flaecher, H.; George, S.; Green, M.; Kurup, A.; Marker, C.; McMahon, T.; Ricciardi, S.; Salvatore, F.; Vaitsas, G.; Winter, M.; Brown, D.; Davis, C.; Allison, J.; Barlow, N.; Barlow, R.; Hart, P.; Hodgkinson, M.; Lafferty, G.; Lyon, A.; Williams, J.; Farbin, A.; Hulsbergen, W.; Jawahery, A.; Kovalskyi, D.; Lae, C.; Lillard, V.; Roberts, D.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Flood, K.; Hertzbach, S.; Kofler, R.; Koptchev, V.; Moore, T.; Saremi, S.; Staengle, H.; Willocq, S.; Cowan, R.; Sciolla, G.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Mangeol, D.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Reidy, J.; Sanders, D.; Summers, D.; Zhao, H.; Brunet, S.; Côté, D.; Taras, P.; Nicholson, H.; Cartaro, C.; Cavallo, N.; Fabozzi, F.; Gatto, C.; Lista, L.; Monorchio, D.; Paolucci, P.; Piccolo, D.; Sciacca, C.; Baak, M.; Raven, G.; Wilden, L.; Jessop, C.; LoSecco, J.; Gabriel, T.; Allmendinger, T.; Brau, B.; Gan, K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Pulliam, T.; Ter-Antonyan, R.; Wong, Q.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Potter, C.; Sinev, N.; Strom, D.; Torrence, E.; Colecchia, F.; Dorigo, A.; Galeazzi, F.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Tiozzo, G.; Voci, C.; Benayoun, M.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; de la Vaissière, Ch.; Del Buono, L.; Hamon, O.; John, M.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Pivk, M.; Roos, L.; T’Jampens, S.; Therin, G.; Manfredi, P.; Re, V.; Behera, P.; Gladney, L.; Guo, Q.; Panetta, J.; Anulli, F.; Biasini, M.; Peruzzi, I.; Pioppi, M.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Del Gamba, V.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinez-Vidal, F.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Walsh, J.; Haire, M.; Judd, D.; Paick, K.; Wagoner, D.; Danielson, N.; Elmer, P.; Lu, C.; Miftakov, V.; Olsen, J.; Smith, A.; Varnes, E.; Bellini, F.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Pierini, M.; Piredda, G.; Safai Tehrani, F.; Voena, C.; Christ, S.; Wagner, G.; Waldi, R.; Adye, T.; De Groot, N.; Franek, B.; Geddes, N.; Gopal, G.; Olaiya, E.; Xella, S.; Aleksan, R.; Emery, S.; Gaidot, A.; Ganzhur, S.; Giraud, P.-F.; Hamel de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Langer, M.; Legendre, M.; London, G.; Mayer, B.; Schott, G.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Purohit, M.; Weidemann, A.; Yumiceva, F.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Berger, N.; Boyarski, A.; Buchmueller, O.; Convery, M.; Cristinziani, M.; De Nardo, G.; Dong, D.; Dorfan, J.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Elsen, E.; Field, R.; Glanzman, T.; Gowdy, S.; Hadig, T.; Halyo, V.; Hryn’ova, T.; Innes, W.; Kelsey, M.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Libby, J.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; O’Grady, C.; Ozcan, V.; Perazzo, A.; Perl, M.; Petrak, S.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Simi, G.; Snyder, A.; Soha, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M.; Va’vra, J.; Wagner, S.; Weaver, M.; Weinstein, A.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Young, C.; Burchat, P.; Edwards, A.; Meyer, T.; Petersen, B.; Roat, C.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Saeed, M.; Saleem, M.; Wappler, F.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S.; Eckmann, R.; Kim, H.; Ritchie, J.; Satpathy, A.; Schwitters, R.; Izen, J.; Kitayama, I.; Lou, X.; Ye, S.; Bianchi, F.; Bona, M.; Gallo, F.; Gamba, D.; Borean, C.; Bosisio, L.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Dittongo, S.; Grancagnolo, S.; Lanceri, L.; Poropat, P.; Vitale, L.; Vuagnin, G.; Panvini, R.; Banerjee, Sw.; Brown, C.; Fortin, D.; Jackson, P.; Kowalewski, R.; Roney, J.; Band, H.; Dasu, S.; Datta, M.; Eichenbaum, A.; Hollar, J.; Johnson, J.; Kutter, P.; Li, H.; Liu, R.; Di Lodovico, F.; Mihalyi, A.; Mohapatra, A.; Pan, Y.; Prepost, R.; Sekula, S.; Tan, P.; von Wimmersperg-Toeller, J.; Wu, J.; Wu, S.; Yu, Z.; Neal, H.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7586-7253
mit.licensePUBLISHER_POLICYen_US


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record