Search for Second-Class Currents in tau ---> omega pi - nu tau

Aubert, B.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Tico, J.; Grauges, E.; Martinelli, M.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Battaglia, M.; Brown, D.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Randle-Conde, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Atmacan, H.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wang, L.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Toki, W.; Wilson, R.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, T.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Franchini, P.; Luppi, E.; Munerato, M.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bernlochner, F.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; Derkach, D.; da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Malaescu, B.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Henderson, S.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Schram, M.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Stracka, S.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Bonneaud, G.; Briand, H.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Esteve, L.; de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Sevilla, M.; Gabareen, A.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Young, C.; Ziegler, V.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Burchat, P.; Edwards, A.; Miyashita, T.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Soffer, A.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Wray, B.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; King, G.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Puccio, E.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.

Author(s)

Dujmic, Denis; Yamamoto, R. K.; Sciolla, Gabriella; Henderson, Shawn Wesley; Zhao, M.; ... Show more

DownloadAubert-2009-Search for Second-Cl.pdf (183.1Kb)

PUBLISHER_POLICY

Terms of use

Article is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.

Metadata

Show full item record

Abstract

We report an analysis of τ- decaying into ωπ-ντ with ω→π(+)π-π(0) using a data sample containing nearly 320×106τ pairs collected with the BABAR detector at the PEP-II B-Factory. We find no evidence for second-class currents, and we set an upper limit of 0.69% at 90% confidence level for the fraction of second-class currents in this decay mode.

Date issued

2009-07

URI

http://hdl.handle.net/1721.1/51737

Department

Massachusetts Institute of Technology. Department of Physics; Massachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Science

Journal

Physical Review Letters

Publisher

American Physical Society

Citation

Version: Final published version

ISSN

0031-9007

Collections

MIT Open Access Articles

DSpace@MIT