Show simple item record

dc.contributor.authorDujmic, Denis
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.authorZhao, M.
dc.contributor.authorFisher, Peter H
dc.contributor.authorSpitznagel, Michael A
dc.contributor.authorCowan, Ray F
dc.date.accessioned2010-02-12T13:58:56Z
dc.date.available2010-02-12T13:58:56Z
dc.date.issued2009-07
dc.date.submitted2009-04
dc.identifier.issn0031-9007
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/51737
dc.description.abstractWe report an analysis of τ- decaying into ωπ-ντ with ω→π(+)π-π(0) using a data sample containing nearly 320×106τ pairs collected with the BABAR detector at the PEP-II B-Factory. We find no evidence for second-class currents, and we set an upper limit of 0.69% at 90% confidence level for the fraction of second-class currents in this decay mode.en
dc.description.sponsorshipDepartment of Energyen
dc.description.sponsorshipMEC (Spain)en
dc.description.sponsorshipNFR (Norway)en
dc.description.sponsorshipScience and Technology Facilities Council and the Royal Society, U.Ken
dc.description.sponsorshipCNRS-IN2P3 (France)en
dc.description.sponsorshipFOM (The Netherlands)en
dc.description.sponsorshipIstituto Nazionale di Fisica Nucleare of Italyen
dc.description.sponsorshipCEAen
dc.description.sponsorshipMES (Russia)en
dc.description.sponsorshipDFG (Germany)en
dc.description.sponsorshipNational Science Foundationen
dc.description.sponsorshipNSERC of Canadaen
dc.description.sponsorshipBMBF (Germany)en
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.103.041802en
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en
dc.sourceAPSen
dc.titleSearch for Second-Class Currents in tau ---> omega pi - nu tauen
dc.typeArticleen
dc.identifier.citationAubert, B. et al. “Search for Second-Class Currents in tau ---> omega pi - nu tau .” Physical Review Letters 103.4 (2009): 041802. © 2009 The American Physical Society.en
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Department of Physicsen_US
dc.contributor.departmentMassachusetts Institute of Technology. Laboratory for Nuclear Scienceen_US
dc.contributor.approverFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.contributor.mitauthorSpitznagel, M.
dc.contributor.mitauthorZhao, M.
dc.contributor.mitauthorDujmic, Denis
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.relation.journalPhysical Review Lettersen
dc.eprint.versionFinal published versionen
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Tico, J.; Grauges, E.; Martinelli, M.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Battaglia, M.; Brown, D.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Randle-Conde, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Atmacan, H.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wang, L.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Toki, W.; Wilson, R.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, T.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Franchini, P.; Luppi, E.; Munerato, M.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Lo Vetere, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bernlochner, F.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; Derkach, D.; da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Malaescu, B.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Henderson, S.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Schram, M.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Stracka, S.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Bonneaud, G.; Briand, H.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Esteve, L.; de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Sevilla, M.; Gabareen, A.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Young, C.; Ziegler, V.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Burchat, P.; Edwards, A.; Miyashita, T.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Soffer, A.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Wray, B.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; King, G.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Puccio, E.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8667-5660
mit.licensePUBLISHER_POLICYen
mit.metadata.statusComplete


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record