Show simple item record

dc.contributor.authorZhao, M.
dc.contributor.authorYamamoto, R. K.
dc.contributor.authorTaylor, Frank E.
dc.contributor.authorSpitznagel, M.
dc.contributor.authorSciolla, Gabriella
dc.contributor.authorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.authorDujmic, Denis
dc.contributor.authorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.authorFisher, Peter H.
dc.date.accessioned2010-05-19T18:37:05Z
dc.date.available2010-05-19T18:37:05Z
dc.date.issued2009-06
dc.date.submitted2009-01
dc.identifier.issn1089-4918
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1721.1/54810
dc.description.abstractWe report on a Dalitz plot analysis of B-→D+π-π- decays, based on a sample of about 383×106 Υ(4S)→BB̅ decays collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B Factory at SLAC. We find the total branching fraction of the three-body decay: B(B-→D+π-π-)=(1.08±0.03±0.05)×10-3. We observe the established D2*0 and confirm the existence of D0*0 in their decays to D+π-, where the D2*0 and D0*0 are the 2+ and 0+cu̅ P-wave states, respectively. We measure the masses and widths of D2*0 and D0*0 to be: mD2*0=(2460.4±1.2±1.2±1.9)   MeV/c2, ΓD2*0=(41.8±2.5±2.1±2.0)   MeV, mD0*0=(2297±8±5±19)  MeV/c2, and ΓD0*0=(273±12±17±45)   MeV. The stated errors reflect the statistical and systematic uncertainties, and the uncertainty related to the assumed composition of signal events and the theoretical model.en
dc.description.sponsorshipScience and Technology Facilities Council, United Kingdomen
dc.description.sponsorshipMEC (Spain)en
dc.description.sponsorshipMinistry of Education and Science of the Russian Federationen
dc.description.sponsorshipNorges forskningsråden
dc.description.sponsorshipFOM of the Netherlandsen
dc.description.sponsorshipIstituto Nazionale di Fisica Nucleare of Italyen
dc.description.sponsorshipDeutsche Forschungsgemeinschaften
dc.description.sponsorshipBundesministerium für Bildung und Forschung, Germanyen
dc.description.sponsorshipInstitut National de Physique Nucleaire et Physique des Particules/CNRSen
dc.description.sponsorshipCommissariat à l'Energie Atomique (France)en
dc.description.sponsorshipNatural Sciences and Engineering Research Council of Canadaen
dc.description.sponsorshipNational Science Foundationen
dc.description.sponsorshipUnited States Department of Energyen
dc.language.isoen_US
dc.publisherAmerican Physical Societyen
dc.relation.isversionofhttp://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.79.112004en
dc.rightsArticle is made available in accordance with the publisher's policy and may be subject to US copyright law. Please refer to the publisher's site for terms of use.en
dc.sourceAPSen
dc.titleDalitz plot analysis of B[superscript -]-->D[superscript +]pi[superscript -]pi[superscript -]en
dc.title.alternativeDalitz plot analysis of B-→D+π-π-en
dc.typeArticleen
dc.identifier.citationBABAR Collaboration et al. “Dalitz plot analysis of B--->D[superscript +] pi[superscript -] pi[superscript -].” Physical Review D 79.11 (2009): 112004. © 2009 American Physical Society.en
dc.contributor.approverFisher, Peter H.
dc.contributor.mitauthorZhao, M.
dc.contributor.mitauthorYamamoto, R. K.
dc.contributor.mitauthorTaylor, Frank E.
dc.contributor.mitauthorSpitznagel, M.
dc.contributor.mitauthorSciolla, Gabriella
dc.contributor.mitauthorHenderson, Shawn Wesley
dc.contributor.mitauthorDujmic, Denis
dc.contributor.mitauthorCowan, Ray Franklin
dc.contributor.mitauthorFisher, Peter H.
dc.relation.journalPhysical Review Den
dc.eprint.versionFinal published versionen
dc.type.urihttp://purl.org/eprint/type/JournalArticleen
eprint.statushttp://purl.org/eprint/status/PeerRevieweden
dspace.orderedauthorsAubert, B.; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.; Battaglia, M.; Brown, D.; Jacobsen, R.; Kerth, L.; Kolomensky, Yu.; Lynch, G.; Osipenkov, I.; Ronan, M.; Tackmann, K.; Tanabe, T.; Hawkes, C.; Soni, N.; Watson, A.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D.; Fulsom, B.; Hearty, C.; Mattison, T.; McKenna, J.; Barrett, M.; Khan, A.; Blinov, V.; Bukin, A.; Buzykaev, A.; Druzhinin, V.; Golubev, V.; Onuchin, A.; Serednyakov, S.; Skovpen, Yu.; Solodov, E.; Todyshev, K.; Bondioli, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E.; Stoker, D.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Atmacan, H.; Gary, J.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G.; Yasin, Z.; Zhang, L.; Sharma, V.; Campagnari, C.; Hong, T.; Kovalskyi, D.; Mazur, M.; Richman, J.; Beck, T.; Eisner, A.; Flacco, C.; Heusch, C.; Kroseberg, J.; Lockman, W.; Martinez, A.; Schalk, T.; Schumm, B.; Seiden, A.; Wilson, M.; Winstrom, L.; Cheng, C.; Doll, D.; Echenard, B.; Fang, F.; Hitlin, D.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F.; Andreassen, R.; Mancinelli, G.; Meadows, B.; Mishra, K.; Sokoloff, M.; Bloom, P.; Ford, W.; Gaz, A.; Hirschauer, J.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J.; Wagner, S.; Ayad, R.; Soffer, A.; Toki, W.; Wilson, R.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Karbach, M.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Kobel, M.; Nogowski, R.; Schubert, K.; Schwierz, R.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G.; Latour, E.; Verderi, M.; Clark, P.; Playfer, S.; Watson, J.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M.; Monge, M.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K.; Morii, M.; Adametz, A.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Klose, V.; Lacker, H.; Bard, D.; Dauncey, P.; Tibbetts, M.; Behera, P.; Chai, X.; Charles, M.; Mallik, U.; Cochran, J.; Crawley, H.; Dong, L.; Meyer, W.; Prell, S.; Rosenberg, E.; Rubin, A.; Gao, Y.; Gritsan, A.; Guo, Z.; Lae, C.; Arnaud, N.; Béquilleux, J.; D’Orazio, A.; Davier, M.; da Costa, J.; Grosdidier, G.; Le Diberder, F.; Lepeltier, V.; Lutz, A.; Pruvot, S.; Roudeau, P.; Schune, M.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D.; Wright, D.; Bingham, I.; Burke, J.; Chavez, C.; Fry, J.; Gabathuler, E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D.; Payne, D.; Touramanis, C.; Bevan, A.; Clarke, C.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Wren, A.; Brown, D.; Davis, C.; Denig, A.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Alwyn, K.; Bailey, D.; Barlow, R.; Jackson, G.; Lafferty, G.; West, T.; Yi, J.; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D.; Simi, G.; Tuggle, J.; Dallapiccola, C.; Li, X.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Fisher, P.; Henderson, S.; Sciolla, G.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R.; Zhao, M.; Patel, P.; Robertson, S.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Summers, D.; Zhao, H.; Simard, M.; Taras, P.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Lista, L.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H.; Jessop, C.; Knoepfel, K.; LoSecco, J.; Wang, W.; Corwin, L.; Honscheid, K.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J.; Rahimi, A.; Regensburger, J.; Sekula, S.; Wong, Q.; Blount, N.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Castelli, G.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; del Amo Sanchez, P.; Ben-Haim, E.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Ocariz, J.; Perez, A.; Prendki, J.; Sitt, S.; Gladney, L.; Biasini, M.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J.; Lopes Pegna, D.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A.; Telnov, A.; Anulli, F.; Baracchini, E.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P.; Li Gioi, L.; Mazzoni, M.; Morganti, S.; Piredda, G.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Hartmann, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Franek, B.; Olaiya, E.; Wilson, F.; Emery, S.; Escalier, M.; Esteve, L.; de Monchenault, G.; Kozanecki, W.; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Zito, M.; Chen, X.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M.; White, R.; Wilson, J.; Allen, M.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Benitez, J.; Cenci, R.; Coleman, J.; Convery, M.; Dingfelder, J.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G.; Dunwoodie, W.; Field, R.; Gabareen, A.; Graham, M.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W.; Kaminski, J.; Kelsey, M.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M.; Leith, D.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H.; MacFarlane, D.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D.; Neal, H.; Nelson, S.; O’Grady, C.; Ofte, I.; Perl, M.; Ratcliff, B.; Roodman, A.; Salnikov, A.; Schindler, R.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M.; Suzuki, K.; Swain, S.; Thompson, J.; Va’vra, J.; Wagner, A.; Weaver, M.; West, C.; Wisniewski, W.; Wittgen, M.; Wright, D.; Wulsin, H.; Yarritu, A.; Yi, K.; Young, C.; Ziegler, V.; Burchat, P.; Edwards, A.; Miyashita, T.; Ahmed, S.; Alam, M.; Ernst, J.; Pan, B.; Saeed, M.; Zain, S.; Spanier, S.; Wogsland, B.; Eckmann, R.; Ritchie, J.; Ruland, A.; Schilling, C.; Schwitters, R.; Drummond, B.; Izen, J.; Lou, X.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez-March, N.; Martinez-Vidal, F.; Milanes, D.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bhuyan, B.; Choi, H.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M.; Nugent, I.; Roney, J.; Sobie, R.; Gershon, T.; Harrison, P.; Ilic, J.; Latham, T.; Mohanty, G.; Band, H.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C.; Wu, S.en
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-7586-7253
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0002-8667-5660
mit.licensePUBLISHER_POLICYen


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record